[实用新型]一种集成电路芯片测试系统

说明书

技术领域

本实用新型属于集成电路芯片测试领域，尤其是一种集成电路芯片测试系统。

背景技术

集成电路芯片的设计及生产厂家经常需要使用集成电路芯片测试系统对集成电路芯片进行测试。集成电路芯片测试系统主要由芯片测试机及控制机连接构成，芯片测试机由测试机主板、各功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板控制各功能板卡协调工作对芯片载板上的待测集成电路芯片进行性能测试，芯片测试机与控制机共同完成激励、测量、数据处理、显示或输出测试结果等工作。由于集成电路芯片技术水平的迅猛发展，对于集成电路芯片测试系统的测试速度及功能要求越来越高，因此，现有的集成电路芯片测试系统普遍存在结构非常复杂、成本昂贵并且维护困难等问题。

发明内容

本实用新型的目地在于克服现有技术的不足，提出一种集成电路芯片测试系统，该集成电路芯片测试系统采用PXI通信平台将测试机主板与模块化功能板卡结合在一起，解决了系统结构复杂的问题，同时节约了设备成本且便于系统维护。

本实用新型解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：

一种集成电路芯片测试系统，包括芯片测试机和控制机，芯片测试机由机壳、测试机主板、功能板卡及芯片载板连接构成，测试机主板及功能板卡设置在机壳内并且功能板卡安装在测试机主板上，芯片载板安装在机壳表面并与测试机主板相连接，所述的功能板卡为具有PXI接口的PXI功能板卡，PXI功能板卡安装在测试机主板上设有的PXI插槽内。

而且，所述的测试机主板上安装的PXI功能板卡包括数字I/O板卡和直流电源板卡，或者包括数字I/O板卡和参数测量单元板卡。

而且，所述的测试机主板上还安装如下PXI功能板卡的一种或多种：波形发生器板卡和数字化仪板卡。

而且，所述的芯片载板与测试机主板通过Molex连接器连接在一起。

而且，所述的控制机与芯片测试机通过串行通信方式连接在一起。

而且，所述的控制机由安装有测控软件的计算机、显示器及键盘连接构成。

而且，芯片测试机和控制机安装在测试机架上，其具体安装方式为；在测试机架中部水平安装有一U形架，U形架的两端水平设有旋转轴并与芯片测试机安装在一起，计算机安装在测试机架的底座上，显示器及键盘安装在测试机架中部设有的水平托盘上。

本实用新型的优点和积极效果是：

1、本芯片测试系统采用PXI通信平台将测试机主板与PXI功能板卡安装在一起，充分利用了PXI技术的电气总线特性与CompactPCI的坚固性、模块化及Eurocard机械封装的特性，性能远远超越采用了VXI和GPIB接口的芯片测试系统，而且结构更加简单，尺寸更加精简，成本更加低廉。

2、本芯片测试系统采用模块化设计，可以按用户的需要选择不同的PXI功能板卡来搭建不同测试需求的测试系统，当测试系统需要升级或增减功能时，只需更换其中的PXI功能板卡即可实现；而且用户在测试机主板的空余插槽可任意添加标准化的PXI功能板卡，实现设备成本的最优控制，相对现有的芯片测试机系统，具有更高的灵活性，满足了用户定制独特的测试系统的需求。

3、本芯片测试系统将控制机与芯片测试机通过串行通信方式连接在一起构成统一的测试环境，通过控制机上的测控软件能够对测试资源进行高效利用，可以更快地进行测试设计和运行，能够对产量、质量和生产线的变化作出快速反应，可在测试系统之间或在原型验证、工艺过程、性能测试的各个阶段互换测试资源，降低了测试成本，减少了浪费。

4、本实用新型采用模块化设计并使用PXI功能卡与测试机主板安装在一起，降低了系统的复杂性，方便了系统的扩展，具有高速、低功耗、低成本、高性价比、稳定性好并且使用方便等特点，从而大大降低了测试成本，满足了研发、设计和生产测试工程师的需求。

附图说明

图1是集成电路芯片测试系统的电路原理框图；

图2是集成电路芯片测试系统的结构连接示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型实施例做进一步详述。