[实用新型]半导体用氟表面蚀刻液生产装置有效
申请号: | 201020250851.9 | 申请日: | 2010-07-01 |
公开(公告)号: | CN201768554U | 公开(公告)日: | 2011-03-23 |
发明(设计)人: | 戈士勇 | 申请(专利权)人: | 江阴市润玛电子材料有限公司 |
主分类号: | B01J10/00 | 分类号: | B01J10/00;B01J19/02;B01F3/08;B01F7/16;C23F1/24 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所 32210 | 代理人: | 唐纫兰;曾丹 |
地址: | 214423 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 表面 蚀刻 生产 装置 | ||
1.一种半导体用氟表面蚀刻液生产装置,其特征在于:它包括氢氟酸储罐(1)、缓冲剂储罐(2)、第一混合罐(3)、硝酸储罐(4)、稳定剂储罐(5)、第二混合罐(6)、去离子水储罐(7)、第三混合罐(8)、过滤器(9)和成品罐(10);
所述氢氟酸储罐(1)和缓冲剂储罐(2)分别与第一混合罐(3)进口相连接;
所述硝酸储罐(4)和稳定剂储罐(5)分别与第二混合罐(6)进口相连接;
所述第一混合罐(3)和第二混合罐(6)出口分别与第三混合罐(8)进口相连接,所述第三混合罐(8)进口上还连有去离子水储罐(7);
所述第三混合罐(8)出口与过滤器(9)进口相连接,所述过滤器(9)出口与成品罐(10)相连接;所述第一混合罐(3)、第二混合罐(6)和第三混合罐(8)内均设有搅拌器。
2.根据权利要求1所述的一种半导体用氟表面蚀刻液生产装置,其特征在于:所述第一混合罐(3)、第二混合罐(6)和第三混合罐(8)内壁均为聚四氟乙烯。
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