[实用新型]半导体用氟表面蚀刻液生产装置有效
申请号: | 201020250851.9 | 申请日: | 2010-07-01 |
公开(公告)号: | CN201768554U | 公开(公告)日: | 2011-03-23 |
发明(设计)人: | 戈士勇 | 申请(专利权)人: | 江阴市润玛电子材料有限公司 |
主分类号: | B01J10/00 | 分类号: | B01J10/00;B01J19/02;B01F3/08;B01F7/16;C23F1/24 |
代理公司: | 江阴市同盛专利事务所 32210 | 代理人: | 唐纫兰;曾丹 |
地址: | 214423 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 表面 蚀刻 生产 装置 | ||
(一)技术领域
本实用新型涉及一种半导体用氟表面蚀刻液生产装置,属于电子化学品生产设备技术领域。
(二)背景技术
湿法化学蚀刻在半导体制造中式最为常见的图形化技术之一。母亲啊的时刻也种类比较繁多,但专用于半导体的蚀刻液相对较少。蚀刻液在蚀刻中的稳定性、细线条蚀刻的平滑度及精度、产品合格率等方面尚存缺陷。为保证其稳定性及蚀刻的平滑度及精度,在蚀刻液中氢氟酸、硝酸强酸,需要加入一定的稳定剂和缓冲剂。而常规的将蚀刻液中的各组份在同一容器中一起混合的装置,其分散混合性能差,蚀刻液杂质含量多,且多种强酸直接共混存在较大的安全隐患,不能满足使用需求。
(三)发明内容
本实用新型的目的在于克服上述不足,提供一种分散混合性好、杂质含量少、操作安全的半导体用氟表面蚀刻液生产装置。
本实用新型的目的是这样实现的:一种半导体用氟表面蚀刻液生产装置,其特征在于:它包括氢氟酸储罐、缓冲剂储罐、第一混合罐、硝酸储罐、稳定剂储罐、第二混合罐、去离子水储罐、第三混合罐、过滤器和成品罐;
所述氢氟酸储罐和缓冲剂储罐分别与第一混合罐进口相连接;
所述硝酸储罐和稳定剂储罐分别与第二混合罐进口相连接;
所述第一混合罐和第二混合罐出口分别与第三混合罐进口相连接,所述第三混合罐进口上还连有去离子水储罐;
所述第三混合罐出口与过滤器进口相连接,所述过滤器出口与成品罐相连接;
所述第一混合罐、第二混合罐和第三混合罐内均设有搅拌器。
所述第一混合罐、第二混合罐和第三混合罐内壁均为聚四氟乙烯。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
本实用新型半导体用氟表面蚀刻液生产装置,将氢氟酸与缓冲剂在第一混合罐中充分搅拌混合均匀,将硝酸与稳定剂在第二混合罐中充分搅拌混合均匀后,再进入第三混合罐中混合,过滤后封装。其分散混合均有性好、且操作安全性好,产品杂质含量少。
(四)附图说明
图1为本实用新型半导体用氟表面蚀刻液生产装置的结构示意图。
其中:
氢氟酸储罐1、缓冲剂储罐2、第一混合罐3、硝酸储罐4、稳定剂储罐5、第二混合罐6、去离子水储罐7、第三混合罐8、过滤器9、成品罐10。
(五)具体实施方式
参见图1,本实用新型涉及的一种半导体用氟表面蚀刻液生产装置,主要由氢氟酸储罐1、缓冲剂储罐2、第一混合罐3、硝酸储罐4、稳定剂储罐5、第二混合罐6、去离子水储罐7、第三混合罐8、过滤器9和成品罐10组成,
所述氢氟酸储罐1和缓冲剂储罐2分别与第一混合罐3进口相连接;
所述硝酸储罐4和稳定剂储罐5分别与第二混合罐6进口相连接;
所述第一混合罐3和第二混合罐6出口分别与第三混合罐8进口相连接,所述第三混合罐8进口上还连有去离子水储罐7;
所述第三混合罐8出口与过滤器9进口相连接,所述过滤器9出口与成品罐10相连接。
所述第一混合罐3、第二混合罐6和第三混合罐8内壁均为聚四氟乙烯;
所述第一混合罐3、第二混合罐6和第三混合罐8内均设有搅拌器。
所述缓冲剂储罐2为氟化铵储罐。
所述稳定剂储罐5为冰醋酸储罐或盐酸储罐。
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