[实用新型]半导体激光器老化测试控制系统

说明书

技术领域

本实用新型设计半导体激光器领域，特别涉及一种半导体激光器老化测试控制系统。 

背景技术

半导体激光器老化是为了提高半导激光器产品的可靠性，稳定性而设计的一种控制电路。在高温环境下，通过上电测试，给激光器提供一个稳定的受控电流，并通过IIC通信使单板驱动电路与计算机主机进行通信，实时监视、控制激光器的温度，以达到可靠性筛选，将早期不良产品滤除的一种装置。 

激光器的可靠性与寿命越来越受到人们的重视。然而，到目前为止，高温下长时间测试激光器的性能开展得比较少，由于资金及技术等各方面的原因，并且激光器老化设备昂贵，很多激光器生产商直接根据TEC工作能力确定产品的工作环境，并未真正使激光器在实际的高温环境中进行工作，测试并不系统全面。

发明内容

本实用新型的目的在于，提供一种可以智能的对激光器进行筛选，并且成本低、精度高、可靠性高的半导体激光器老化测试控制系统。 

为了达到上述目的，本实用新型提供的一种半导体激光器老化测试控制系统一种半导体激光器老化测试控制系统，其特征在于，所述控制系统由至少一个相互独立的驱动电路板组成，所述驱动电路板由横流控制电路和温度控制电路组成。 

所述横流控制电路组成如下：第一集成运算放大器U1A的正相输入端由端口DCＡcurrset设定输入电压，通过电阻R3与端口LD连接；第一成运算放大器U1A的反相输入端通过电阻R5接地，电阻R8与电容C2组成的并联电路连接于第一成运算放大器U1A的反相输入端与输出端之间；所述第一集成运算放大器U1A的输出端通过R6与R7组成的并联电路与端口LD连接；第一集成运算放大器U1A的正电源端接正向偏置电压，并通过电容C1接地；第一集成运算放大器U1A的负电源端接地。 

所述温度控制电路组成如下：第二集成运算放大器U4A的正相输入端通过电阻R11接1.8V参考电压；第二集成运算放大器U4A的反相输入端通过电阻R13与端口TempErr连接，第二集成运算放大器U4A的反相输入端依次通过电容C6、电阻R18与第二集成运算放大器U4A的输出端连接；第二集成运算放大器U4A的输出端通过电阻R14与音频功放芯片U3的管脚-IN连接；音频功放芯片U3的管脚SHDN与端口TEC_SHDN连接；音频功放芯片U3的管脚BYPASS、+IN输入相同正向电压1.8V；音频功放芯片U3的管脚-IN通过电阻R15与管脚VD+连接，管脚VD+与端口TEC-连接；音频功放芯片U3的管脚VDD加正向偏置电压，并通过电容C7接地；音频功放芯片U3的管脚GND接地；音频功放芯片U3的管脚VD-与端口TEC+连接；第三集成运算放大器U4B的正相输入端通过电阻R21接正向电压，并与端口RTH直接连接；第三集成运算放大器U4B的反相输入端通过电阻R22与端口DCATempctrl连接，并通过电阻R24、电容C10组成的并联电路与第三集成运算放大器U4B的输出端连接；第三集成运算放大器U4B的输出端与端口TempErr连接；第三集成运算放大器U4B的正电源端接正向偏置电压，并通过电容C9接地；第三集成运算放大器U4B的负电源端接地。 

其中，端口DCＡcurrset表示给激光器提供恒定电流的控制电压，它是由数模转换芯片输出的；端口LD表示激光二极管，端口TEC_SHDN表示温度控制电路的开关，由单片机端口直接输出的高低电平控制，端口DCATempctrl表示设定激光器工作中管芯温度的控制电压，端口TempErr表示温控电路中温度的偏差转换成的电压偏差，它直接与R13相连并与后面电路构成积分比例电路，端口TEC-表示激光器内部制冷器的负端，端口TEC+表示激光器内部制冷器的正端，端口RTH表示激光器内部用于监测管芯温度的热敏电阻。 

其中，所述第一集成运算放大器U1A的正相输入端依次通过电阻R3、反向二极管D1与电容C3组成的并联电路接地，达到保护激光器二极管的目的。 

其中，第一集成运算放大器U1A、第二集成运算放大器U4A及第三集成运算放大器U4B的正电源端接正向偏置电压均为3.3V；所述音频功放芯片U3的管脚BYPASS、+IN及VDD输入正向电压分别为1.8V、1.8V及3.3V；所述第二集成运算放大器U4A的正相输入端所加正向电压为2.5V；要求单片机控制电路部分的A/D与D/A转换芯片的转换精度为16位，且转换芯片的参考电压为3.0V。 

其中，所述驱动电路板设有IIC通信端口。 

其中，所述IIC通信端口通过USB接口与PC机连接。