[实用新型]支持外部自动测试设备的电路板有效

专利信息
申请号: 201020681944.7 申请日: 2010-12-27
公开(公告)号: CN201903876U 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 郑毓琦;陈峥;黄韬;左清清;徐奥 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司第六三一研究所
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F13/10
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710068 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 支持 外部 自动 测试 设备 电路板
【权利要求书】:

1.一种支持外部自动测试设备的电路板,包括微处理器以及与微处理器连接的功能模块组,所述功能模块组中各个功能模块分别与微处理器相连,其特征在于:它还包括用于隔离微处理器对各功能模块控制、使外部自动测试设备能够对功能模块组的各个功能模块进行控制的多个隔离控制电路,所述各隔离控制电路设置在微处理器和外部自动测试设备之间,所述各隔离控制电路分别设置在相应的功能模块内。

2.根据权利要求1所述的支持外部自动测试设备的电路板,其特征在于:所述功能模块组包括时钟模块,所述隔离控制电路包括时钟电路,所述时钟电路设置在时钟模块中,所述时钟电路包括第一与非门和第二与非门;所述第一与非门的两个输入端分别接内部晶振的输出以及外部自动测试设备的时钟屏蔽信号,其输出端接第二与非门的其中一个输入端,所述第二与非门的另一个输入端接外部自动测试设备的外部时钟输入信号,所述第二与非门的输出端接微处理器的板内用时钟信号管脚。

3.根据权利要求1或2所述的支持外部自动测试设备的电路板,其特征在于:所述功能模块组包括总线控制模块,所述总线禁止请求电路设置在总线控制模块中,

所述总线禁止请求电路包括用于禁止微处理器控制总线控制模块的禁止电路、用于外部自动测试设备对地址总线进行外部控制的地址总线电路以及用于外部自动测试设备对数据总线进行外部控制的数据总线电路,

所述禁止电路、地址总线电路以及数据总线电路设置在微处理器和外部自动测试设备之间且相互并联;

所述禁止电路包括串联的信号驱动器和复位电路,所述复位电路包括或逻辑,所述或逻辑一端连接外部自动测试设备,另一端连接信号驱动器,所述信号驱动器的另一端与微处理器连接;

所述地址总线电路包括串联的第一双向缓冲器和锁存器,所述第一双向缓冲器的另一端与外部自动测试设备相连,所述锁存器的另一端与微处理器相连;

所述数据总线电路包括第二双向缓冲器,所述第二双向缓冲器的一端与外部自动测试设备相连,所述第二双向缓冲器的另一端与微处理器相连。

4.根据权利要求3所述的支持外部自动测试设备的电路板,其特征在于:所述功能模块组包括离散量控制模块,所述隔离控制电路包括离散量隔离电路、离散量输入电路和离散量输出电路,所述离散量隔离电路、离散量输入电路和离散量输出电路设置在离散量控制模块中,

所述离散量隔离电路包括串联的信号驱动器和复位电路,所述复位电路包括或逻辑,所述或逻辑一端连接外部自动测试设备,另一端连接信号驱动器,所述信号驱动器的另一端与微处理器连接;

所述离散量输入电路包括第一调理电路、单向缓冲器以及第六双向缓冲器,所述第一调理电路和单向缓冲器串联,所述第一调理电路的另一端与外部自动测试设备相连,所述单向缓冲器的另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接;所述离散量输出电路包括第六双向缓冲器、离散量输入锁存器以及第二调理电路,所述离散量输入锁存器与第二调理电路串联,所述离散量输入锁存器的另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接,所述第二调理电路的另一端与外部自动测试设备相连;所述第六双向缓冲器的一端通过16位系统数据总线与外部自动测试设备相连,其另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接。

5.根据权利要求1或2所述的支持外部自动测试设备的电路板,其特征在于:所述功能模块组包括离散量控制模块,所述隔离控制电路包括离散量隔离电路、离散量输入电路和离散量输出电路,所述离散量隔离电路、离散量输入电路和离散量输出电路设置在离散量控制模块中,

所述离散量隔离电路包括串联的信号驱动器和复位电路,所述复位电路包括或逻辑,所述或逻辑一端连接外部自动测试设备,另一端连接信号驱动器,所述信号驱动器的另一端与微处理器连接;

所述离散量输入电路包括第一调理电路、单向缓冲器以及第六双向缓冲器,所述第一调理电路和单向缓冲器串联,所述第一调理电路的另一端与外部自动测试设备相连,所述单向缓冲器的另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接;所述离散量输出电路包括第六双向缓冲器、离散量输入锁存器以及第二调理电路,所述离散量输入锁存器与第二调理电路串联,所述离散量输入锁存器的另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接,所述第二调理电路的另一端与外部自动测试设备相连;所述第六双向缓冲器的一端通过16位系统数据总线与外部自动测试设备相连,其另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接。

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