[实用新型]支持外部自动测试设备的电路板

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种支持外部自动测试设备的电路板。

背景技术

现有的电路板的故障检测都是通过微处理器对电路板自身所携带的各个功能模块分别进行检测的，但是这样的检测方法无法判断究竟是那个功能模块故障，故障定位不准确。

外部自动测试设备ATE是在被测试电路板的微处理器释放总线控制权的情况下进行的，即电路板内微处理器不参与工作电路，电路板内部功能模块的测试是在外部自动测试设备的控制下来完成，可以针对不同的功能模块进行检测，分别进行故障与正常指示，但是完成这种测试，需要电路板内部有一种电路能够支持外部测试设备的测试，现有电路板中都不能支撑外部自动测试设备，这就迫切需要提供一种能够支持外部自动测试设备的电路板。

实用新型内容

为了解决现有的电路板无法支持外部自动测试设备、测试故障定位不准确的技术问题，本实用新型提供一种支持外部测试设备的电路板。

本实用新型的技术解决方案：

一种支持外部自动测试设备的电路板，包括微处理器以及与微处理器连接的功能模块组，所述功能模块组中各个功能模块分别与微处理器相连，其特殊之处在于：它还包括用于隔离微处理器对各功能模块控制、使外部自动测试设备能够对功能模块组的各个功能模块进行控制的多个隔离控制电路，所述各隔离控制电路设置在微处理器和外部自动测试设备之间，所述各隔离控制电路分别设置在相应的功能模块内。

上述功能模块组包括时钟模块，所述隔离控制电路包括时钟电路，所述时钟电路设置在时钟模块中，所述时钟电路包括第一与非门和第二与非门；所述第一与非门的两个输入端分别接内部晶振的输出以及外部自动测试设备的时钟屏蔽信号，其输出端接第二与非门的其中一个输入端，所述第二与非门的另一个输入端接外部自动测试设备的外部时钟输入信号，所述第二与非门的输出端接微处理器的板内用时钟信号管脚。

上述功能模块组包括总线控制模块，所述总线禁止请求电路设置在总线控制模块中，

所述总线禁止请求电路包括用于禁止微处理器控制总线控制模块的禁止电路、用于外部自动测试设备对地址总线进行外部控制的地址总线电路以及用于外部自动测试设备对数据总线进行外部控制的数据总线电路，

所述禁止电路、地址总线电路以及数据总线电路设置在微处理器和外部自动测试设备之间且相互并联；

所述禁止电路包括串联的信号驱动器和复位电路，所述复位电路包括或逻辑，所述或逻辑一端连接外部自动测试设备，另一端连接信号驱动器，所述信号驱动器的另一端与微处理器连接；

所述地址总线电路包括串联的第一双向缓冲器和锁存器，所述第一双向缓冲器的另一端与外部自动测试设备相连，所述锁存器的另一端与微处理器相连；

所述数据总线电路包括第二双向缓冲器，所述第二双向缓冲器的一端与外部自动测试设备相连，所述第二双向缓冲器的另一端与微处理器相连。

上述功能模块组包括离散量控制模块，所述隔离控制电路包括离散量隔离电路、离散量输入电路和离散量输出电路，所述离散量隔离电路、离散量输入电路和离散量输出电路设置在离散量控制模块中，

所述离散量隔离电路包括串联的信号驱动器和复位电路，所述复位电路包括或逻辑，所述或逻辑一端连接外部自动测试设备，另一端连接信号驱动器，所述信号驱动器的另一端与微处理器连接；

所述离散量输入电路包括第一调理电路、单向缓冲器以及第六双向缓冲器，所述第一调理电路和单向缓冲器串联，所述第一调理电路的另一端与外部自动测试设备相连，所述单向缓冲器的另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接；所述离散量输出电路包括第六双向缓冲器、离散量输入锁存器以及第二调理电路，所述离散量输入锁存器与第二调理电路串联，所述离散量输入锁存器的另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接，所述第二调理电路的另一端与外部自动测试设备相连；所述第六双向缓冲器的一端通过16位系统数据总线与外部自动测试设备相连，其另一端通过16位外围数据总线及第五双向缓冲器与微处理器相连接。

外部自动控制电路板的方法，包括以下步骤：

1】在该电路板内建立隔离控制电路，所述隔离控制电路一端与外部自动设备连接，另一端与微处理器连接，所述隔离控制电路用于隔离微处理器对功能模块组中各功能模块的控制；

2】外部自动测试设备发送功能屏蔽信号给隔离控制电路隔离微处理器对功能模块的控制；

3】外部自动测试设备发送功能输入信号给隔离控制电路，通过隔离控制电路隔离微处理器来接管功能模块，并对功能模块进行外部自动测试。