[实用新型]一种探针和用于电子产品测试的连通装置

权利要求书

1.一种探针，其特征在于，包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部设置在所述定位孔内。

2.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述中间部表面设置有绝缘材料。

3.如权利要求1所述的探针，其特征在于，所述焊杆上设置有与用于电子产品测试的连通装置配合的第一限位机构和第二限位机构。

4.一种用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，包括探针固定部、探针套座和探针；所述探针包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部的一端设置在所述定位孔内；所述探针套座设置在所述探针固定部的下方，并可使所述探针固定部在所述探针套座的中心轴线方向上下移动，所述探针设置在所述探针固定部上并可穿过所述探针套座。

5.如权利要求4所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述探针固定部包括探针固定上座、探针固定下座、针盘母座和支撑柱，所述探针固定上座设置在所述探针固定下座上，所述探针固定下座和所述探针母座之间通过所述支撑柱连接，所述探针固定上座上设置有第一通孔，所述探针固定下座相应位置上设置有第二通孔，所以第一通孔和所述第二通孔配合用于夹持所述探针。

6.如权利要求5所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述焊杆上设置有第一限位机构和第二限位机构，所述第一限位机构与所述第一通孔配合，所述第二限位机构与所述第二通孔配合。

7.如权利要求6所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述第一通孔为台阶孔，所述第二通孔为台阶孔。

8.如权利要求5所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述探针套座包括探针下套座和设置在所述探针下套座上的探针上套座，所述探针上套座上设置有可使探针穿过的第三通孔，所述探针下套座相应位置上设置有可使探针穿过的第四通孔。

9.如权利要求8所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述探针上套座和所述针盘母座通过活动卡销连接。

10.如权利要求9所述的用于电子产品测试的连通装置，其特征在于，所述针盘母座上还设置有弹针，所述弹针的针尾穿过所述针盘母座与所述探针上套座连接。