[实用新型]一种探针和用于电子产品测试的连通装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及连通装置，尤其涉及一种探针和用于电子产品测试的连通装置。

背景技术

目前由于手机、NB等光学类电子产品日益普及，对产品的要求越来越精密，各类电子测试要求也越来越高。在现有测试方式中，一般是使用一种小型双头弹簧探针来制作治夹具结构。该结构上下定位座制作精度高，加工难度大，而且长时间使用会使探针头磨损大，探针歪曲及发生其它不良反应。对测试稳定性存在影响。而且探针测试治具维护成本高，经常需要更换探针。

因此，现有技术亟待改进。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种结构简单且不易损坏的探针。

本实用新型要解决的另一技术问题是提供一种具有上述探针且加工简单的用于电子产品测试的连通装置。

本实用新型要解决的技术问题通过以下技术方案加以解决：

一种探针，包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部设置在所述定位孔内。

所述中间部表面设置有绝缘材料。

所述焊杆上设置有与用于电子产品测试的连通装置配合的第一限位机构和第二限位机构。

一种用于电子产品测试的连通装置，包括探针固定部、探针套座和探针；所述探针包括焊杆和针体，所述焊杆上设置有定位孔，所述针体包括连接部、针头部和中间部，所述连接部的一端设置在所述定位孔内；所述探针套座设置在所述固定部的下方，并可使所述探针固定部在所述探针套座的中心轴线方向上下移动，所述探针设置在所述探针固定部上并可穿过所述探针套座。

所述探针固定部包括探针固定上座、探针固定下座、针盘母座和支撑柱，所述探针固定上座设置在所述探针固定下座上，所述探针固定下座和所述探针母座之间通过所述支撑柱连接，所述探针固定上座上设置有第一通孔，所述探针固定下座相应位置上设置有第二通孔，所以第一通孔和所述第二通孔配合用于夹持所述探针。

所述焊杆上设置有第一限位机构和第二限位机构，所述第一限位机构与所述第一通孔配合，所述第二限位机构与所述第二通孔配合。

所述第一通孔为台阶孔，所述第二通孔为台阶孔。

所述探针套座包括探针下套座和设置在所述探针下套座上的探针上套座，所述探针上套座上设置有可使探针穿过的第三通孔，所述探针下套座相应位置上设置有可使探针穿过的第四通孔。

所述探针上套座和所述针盘母座通过活动卡销连接。

所述针盘母座上还设置有弹针，所述弹针的针尾穿过所述针盘母座与所述探针上套座连接。

由于采用了以上技术方案，使本实用新型具备的有益效果在于：

(1)在本实用新型的具体实施方式中，由于焊杆上设置有定位孔，针体的连接部设置在定位孔内，焊针结构简单且不易损坏。

(2)在本实用新型的具体实施方式中，由于探针固定部包括探针固定上座、探针固定下座、针盘母座和支撑柱，通过探针固定下座和探针母座之间通过支撑柱连接，易于组装定位；探针固定下座相应位置上设置有第二通孔，通过第一通孔和第二通孔配合来夹持探针，结构简单，易于实施。

(3)在本实用新型的具体实施方式中，由于探针上套座和所述针盘母座通过活动卡销连接，活动卡销可对探针套座起定位和导向作用，使探针套座在探针固定部的中心轴线方向上下移动。

(4)在本实用新型的具体实施方式中，由于针盘母座上设置有弹针，弹针的针尾穿过针盘母座与探针上套座连接，当无外力作用于本装置时，弹针针尾可弹开探针上套座，使本连通装置复位。

附图说明

图1为本实用新型一种实施方式中的探针结构示意图；

图2为本实用新型一种实施方式中的探针分解示意图；

图3为本实用新型一种实施方式中，用于电子产品测试的连通装置的结构示意图；

图4为本实用新型一种实施方式中，用于电子产品测试的连通装置的剖视图；

图5为图4中的A部分的放大示意图；

图6为本实用新型一种实施方式中的探针固定下座的结构示意图；

图7为本实用新型一种实施方式中的探针上套座的结构示意图；

图8为本实用新型一种实施方式中的探针下套座的结构示意图；

图9为本实用新型一种实施方式中，用于电子产品测试的连通装置的分解示意图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本实用新型作进一步详细说明。

如图1至图5所示，