[发明专利]荧光X射线分析方法有效
| 申请号： | 201080002934.9 | 申请日： | 2010-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN102187208A | 公开（公告）日： | 2011-09-14 |
| 发明（设计）人： | 渡边健二;片冈由行;山田康治郎;森川敦史 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/203 |
| 代理公司： | 北京三幸商标专利事务所 11216 | 代理人： | 刘激扬 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 荧光 射线 分析 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种荧光X射线分析方法，其中：
对以碳、氧和氮中的至少一个元素以及氢为主成分的液体试样照射一次X射线；
测定：由上述液体试样中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线的强度、在上述液体试样中散射的一次X射线的连续X射线的散射线的强度；
根据由上述各元素产生的荧光X射线的测定强度和上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度的比，计算上述液体试样中的元素的浓度，其特征在于，
上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由上述各元素产生的荧光X射线的波长，并且在上述液体试样的组成的变化范围内，上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度和质量吸收系数成反比。
2.根据权利要求1所述的荧光X射线分析方法，其中，上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长设定在0.1042nm～0.2505nm的范围内。
3.根据权利要求1所述的荧光X射线分析方法，其中，相对上述液体试样中的原子序号15～17的元素，上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长设定在0.123nm～0.193nm的范围内。
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