[发明专利]荧光X射线分析方法

说明书

相关技术

本申请要求申请日为2009年9月7日、申请号为2009-205822的申请的优先权，通过参照其整体，作为构成本申请的一部分的内容而引用。

技术领域

本发明涉及采用所谓的散射线内标法的荧光X射线分析方法。

背景技术

在过去，在荧光X射线分析方法中，比如，在求出矿物试样中的金属(分析对象元素)的比例时，为了减少基于共存元素的分析对象元素的荧光X射线的吸收的影响，有采用强度比的方法，该强度比为分析对象元素的荧光X射线的强度和一次X射线的特性X射线的康普顿散射线的强度比(参照专利文献1、2)。该方法为，采用作为内标线的一次X射线的特性X射线的康普顿散射线的散射线内标法。在此场合，人们知道，一次X射线的特性X射线的康普顿散射线的强度，与分析对象元素的荧光X射线的质量吸收系数近似地成反比，这一点表明该康普顿散射线作为内标线是有效的(参照非专利文献1)。另外，还具有作为内标线采用分析线的波长附近的背景(バツクグラウンド)，即，分析对象元素的荧光X射线的光谱的末端的波长的散射线的方法(参照专利文献2、3，非专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平10-82749号公报(第0037～0040段)

专利文献2：日本特许第3569734号公报(第0039，0036，0075段)

专利文献3：日本特开2008-298679号公报(第0001～0005，0024段)

非专利文献

非专利文献1：片岡由行、外3名、“(研究報告)銅製錬におけるけい光X線分析”，X線分析の進步，1981，第13集，p.145-152

非专利文献2：理学電機工業株式会社応用技術センタ一著，“蛍光X線分析実習テキスト”，四訂初版，理学電機工業株式会社，1997年2月，p.37

发明内容

但是，相对油类、有机溶液、水溶液等的试样，即，以碳、氧和氮中的至少一个元素和氢(均为无法事实上测定荧光X射线的所谓的非测定元素)为主成分的液体试样，适用上述现有技术，计算如油中的硫磺(原子序号在9～20的范围内的分析对象元素)的浓度(比例)，即使在该情况下，因在试样中仍大量地包含非测定元素，内标线无法正确地反映试样的组成，由此，无法正确地求出分析对象元素的浓度。

本发明是针对上述现有的问题而提出的。目的在于提供下述的方法，在采用散射线内标法的荧光X射线分析方法中，其可正确地计算以碳、氧和氮中的至少一个元素和氢为主成分的液体试样的原子序号9～20的分析对象元素的浓度。

本申请发明人发现，如果内标线采用一次X射线的连续X射线的散射线，并且该一次X射线的连续X射线的散射线的波长按照下述方式设定，则内标线可正确地反映试样的组成，可正确地计算分析对象元素的浓度，由此，得出本发明，该方式为：该一次X射线的连续X射线的散射线的波长短于由上述原子序号在9～20的范围内的分析对象元素产生的荧光X射线的波长，并且在上述液体试样的组成的变化范围内，上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度和质量吸收系数成反比。

即，本发明的荧光X射线分析方法是这样的，首先，对以碳、氧和氮中的至少一个元素以及氢为主成分的液体试样照射一次X射线，测定：由上述液体试样中的原子序号9～20的各元素产生的荧光X射线的强度、在上述液体试样中散射的一次X射线的连续X射线的散射线的强度，根据由上述各元素产生的荧光X射线的测定强度和上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度的比，计算上述液体试样中的元素的浓度。在这里，上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长按照下述方式设定，该方式为：其短于由上述各元素产生的荧光X射线的波长，并且在上述液体试样的组成的变化范围内，上述一次X射线的连续X射线的散射线的测定强度和质量吸收系数成反比。

按照本发明的方法，相对以碳、氧和氮中的至少一个元素和氢为主成分的液体试样，作为内标线适用于散射线内标法，该散射线内标法像上述那样采用设定了波长的一次X射线的连续X射线的散射线，由此，内标线可正确地反映液体试样的组成，可正确地计算原子序号9～20的分析对象元素的浓度。

在本发明的方法中，上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长最好设定在0.1042nm～0.2505nm的范围内。另外，相对上述液体试样中的原子序号15～17的元素，上述一次X射线的连续X射线的散射线的波长最好设定在0.123nm～0.193nm的范围内。

附图说明