[发明专利]可记录光盘、记录装置和记录方法

权利要求书

1.一种可记录光盘，包括：

被配置为设在盘基板上的四个记录层；以及

被配置为形成在激光入射表面侧的透光层，其中

用于激光功率控制的四个测试区域的每一个被设在各个所述记录层中的比记录用户数据的数据区块更靠近内周的内区块侧区域中，并且

如果所述四个测试区域之中更靠近盘外周的两个测试区域被定义为第一配对并且所述四个测试区域之中更靠近盘内周的两个测试区域被定义为第二配对，则所述第一配对的测试区域和所述第二配对的测试区域被部署成避免在层方向上相互重叠。

2.根据权利要求1所述的可记录光盘，其中

所述第一配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向，并且被部署成防止这些测试区域中接下来要使用的部分在层方向上相互重叠。

3.根据权利要求2所述的可记录光盘，其中

所述第二配对的两个测试区域具有与所述第一配对中的测试区域消耗方向相反的相同测试区域消耗方向，并且被部署成防止这些测试区域中接下来要使用的部分在层方向上相互重叠。

4.根据权利要求2所述的可记录光盘，其中

所述第一配对的两个测试区域具有作为第一消耗方向的相同测试区域消耗方向，并且所述第一配对的两个测试区域之中的在更靠近盘基板的记录层中的测试区域在所述第一消耗方向上位于所述第一配对的两个测试区域之中的在更靠近激光入射表面的记录层中的测试区域的前方。

5.根据权利要求3所述的可记录光盘，其中

所述第二配对的两个测试区域具有作为与所述第一消耗方向相反的第二消耗方向的相同测试区域消耗方向，并且所述第二配对的两个测试区域之中的在更靠近盘基板的记录层中的测试区域在所述第二消耗方向上位于所述第二配对的两个测试区域之中的在更靠近激光入射表面的记录层中的测试区域的前方。

6.根据权利要求3所述的可记录光盘，其中

所述光盘具有12cm的直径，

每个测试区域以约250μm的半径宽度形成在作为所述光盘的半径位置范围的22.5mm至24.0mm的范围中，

所述记录层被形成为使得所述记录层的半径位置的相对误差在约150μm的公差内，

所述第一配对的测试区域的最内周半径位置和所述第二配对的测试区域的最外周半径位置被部署于在层方向上不相互重叠并且在所述半径位置的相对误差为零的情况下沿着半径方向具有至少约150μm的间隔距离的位置，

所述第一配对的两个测试区域被形成于在层方向上不相互重叠并且在所述半径位置的相对误差为零的情况下沿着半径方向具有至少约50μm的间隔距离的位置，并且

所述第二配对的两个测试区域被形成于在层方向上不相互重叠并且在所述半径位置的相对误差为零的情况下沿着半径方向具有至少约50μm的间隔距离的位置。

7.根据权利要求1所述的可记录光盘，其中

在每个所述记录层中的所述内周侧区域中设有用于管理信息的记录和再现的管理信息记录/再现区域，并且

所述管理信息记录/再现区域被部署成使得，对于所述记录层中的每个测试区域，在比该测试区域更靠近激光入射表面的位置处与该测试区域在层方向上重叠的管理信息记录/再现区域的数目等于或小于一个。

8.根据权利要求2所述的可记录光盘，其中

所述管理信息记录/再现区域的每一个被部署成避免与所述记录层中的测试区域在该测试区域的盘基板侧在层方向上重叠。

9.根据权利要求7所述的可记录光盘，其中

所述管理信息记录/再现区域包括存储最新管理信息的确定管理信息区域，并且

所述确定管理信息区域在所有记录层中被部署成相互分离至少与允许的缺陷大小相当的距离。

10.根据权利要求7所述的可记录光盘，其中

所述管理信息记录/再现区域包括根据需要追加存储管理信息的临时管理信息区域，并且

所述临时管理信息区域被基本均等地部署在除最靠近盘基板的记录层以外的记录层中。