[发明专利]半导体元件的制造方法有效
申请号: | 201080008722.1 | 申请日: | 2010-02-04 |
公开(公告)号: | CN102326232A | 公开(公告)日: | 2012-01-18 |
发明(设计)人: | 为本广昭 | 申请(专利权)人: | 日亚化学工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/301 | 分类号: | H01L21/301;B23K26/00;B23K26/073;B23K26/38;B28D5/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张宝荣 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 元件 制造 方法 | ||
1.一种半导体元件的制造方法,其中,具有:
激光照射工序,在构成晶片的基板的内部会聚脉冲激光,将在所述基板的内部间隔开的多个加工部沿着分割预定线形成,并且使龟裂发生,该龟裂从所述加工部至少蔓延至所述基板的表面、且将邻接的所述加工部连接;
晶片分割工序,沿着所述分割预定线分割所述晶片。
2.根据权利要求1所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述龟裂将在所述基板的内部邻接的所述加工部连接。
3.根据权利要求2所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述加工部具有头部和足部,所述龟裂将邻接的所述加工部的头部和足部连接。
4.根据权利要求1~3中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述脉冲激光的会聚位置和所述基板的表面的距离,是所述脉冲激光的加工点直径的二分之一以上、25μm以下。
5.根据权利要求1~3中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述脉冲激光的会聚位置和所述基板的表面的距离为5μm以上、25μm以下。
6.根据权利要求1~5中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述加工部间的距离是所述脉冲激光的加工点直径以上。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述加工部和所述龟裂在所述基板的厚度10%以上、80%以下的范围内形成。
8.根据权利要求1~7中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述分割预定线是第一分割预定线,所述龟裂是第一龟裂,
在所述激光照射工序中,还沿着与所述第一分割预定线大体垂直的第二分割预定线,在所述基板的内部会聚脉冲激光,且将在所述基板的内部间隔开的多个加工部沿着分割预定线形成,并且使第二龟裂发生,该第二龟裂从所述加工部至少蔓延至所述基板的表面、且使邻接的所述加工部连接,
在所述晶片分割工序中,还沿着所述第二分割预定线分割所述晶片。
9.根据权利要求8所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述第一龟裂在邻接的所述加工部间迂回蔓延,所述第二龟裂沿着所述第二分割预定线蔓延。
10.根据权利要求8或9所述的半导体元件的制造方法,其中,
沿着所述第一分割预定线形成的所述加工部的间隔,比沿着所述第二分割预定线形成的所述加工部的间隔小。
11.根据权利要求1~10中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述基板具有第一主面和第二主面,在所述第一主面设有半导体层,在所述激光照射工序中,从所述第二主面侧照射所述脉冲激光。
12.根据权利要求11所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述脉冲激光的会聚位置和所述半导体层的距离比30μm大。
13.根据权利要求1~12中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述加工部是基于多光子吸收的加工部。
14.根据权利要求1~13中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述基板是蓝宝石基板。
15.根据权利要求14所述的半导体元件的制造方法,其中,
所述第二主面是与A面不同的面,所述第一分割预定线是与所述基板的a轴交叉的线。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造