[发明专利]半导体元件的制造方法有效

专利信息
申请号: 201080008722.1 申请日: 2010-02-04
公开(公告)号: CN102326232A 公开(公告)日: 2012-01-18
发明(设计)人: 为本广昭 申请(专利权)人: 日亚化学工业株式会社
主分类号: H01L21/301 分类号: H01L21/301;B23K26/00;B23K26/073;B23K26/38;B28D5/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 张宝荣
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 元件 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体元件的制造方法,其中,具有:

激光照射工序,在构成晶片的基板的内部会聚脉冲激光,将在所述基板的内部间隔开的多个加工部沿着分割预定线形成,并且使龟裂发生,该龟裂从所述加工部至少蔓延至所述基板的表面、且将邻接的所述加工部连接;

晶片分割工序,沿着所述分割预定线分割所述晶片。

2.根据权利要求1所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述龟裂将在所述基板的内部邻接的所述加工部连接。

3.根据权利要求2所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述加工部具有头部和足部,所述龟裂将邻接的所述加工部的头部和足部连接。

4.根据权利要求1~3中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述脉冲激光的会聚位置和所述基板的表面的距离,是所述脉冲激光的加工点直径的二分之一以上、25μm以下。

5.根据权利要求1~3中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述脉冲激光的会聚位置和所述基板的表面的距离为5μm以上、25μm以下。

6.根据权利要求1~5中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述加工部间的距离是所述脉冲激光的加工点直径以上。

7.根据权利要求1~6中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述加工部和所述龟裂在所述基板的厚度10%以上、80%以下的范围内形成。

8.根据权利要求1~7中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述分割预定线是第一分割预定线,所述龟裂是第一龟裂,

在所述激光照射工序中,还沿着与所述第一分割预定线大体垂直的第二分割预定线,在所述基板的内部会聚脉冲激光,且将在所述基板的内部间隔开的多个加工部沿着分割预定线形成,并且使第二龟裂发生,该第二龟裂从所述加工部至少蔓延至所述基板的表面、且使邻接的所述加工部连接,

在所述晶片分割工序中,还沿着所述第二分割预定线分割所述晶片。

9.根据权利要求8所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述第一龟裂在邻接的所述加工部间迂回蔓延,所述第二龟裂沿着所述第二分割预定线蔓延。

10.根据权利要求8或9所述的半导体元件的制造方法,其中,

沿着所述第一分割预定线形成的所述加工部的间隔,比沿着所述第二分割预定线形成的所述加工部的间隔小。

11.根据权利要求1~10中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述基板具有第一主面和第二主面,在所述第一主面设有半导体层,在所述激光照射工序中,从所述第二主面侧照射所述脉冲激光。

12.根据权利要求11所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述脉冲激光的会聚位置和所述半导体层的距离比30μm大。

13.根据权利要求1~12中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述加工部是基于多光子吸收的加工部。

14.根据权利要求1~13中任一项所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述基板是蓝宝石基板。

15.根据权利要求14所述的半导体元件的制造方法,其中,

所述第二主面是与A面不同的面,所述第一分割预定线是与所述基板的a轴交叉的线。

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