[发明专利]具有多种IC封装构造的无引线阵列塑料封装有效
申请号: | 201080010590.6 | 申请日: | 2010-03-08 |
公开(公告)号: | CN102341899A | 公开(公告)日: | 2012-02-01 |
发明(设计)人: | J.麦米兰;S.P.佩伦;K.鲍威尔;A.冯 | 申请(专利权)人: | 优特香港有限公司 |
主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 刘春元;卢江 |
地址: | 中国香港新*** | 国省代码: | 中国香港;81 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 多种 ic 封装 构造 引线 阵列 塑料 | ||
相关申请的交叉引用
该申请要求2009年3月6日提交的美国临时申请No. 61/158,170的权益。通过引用的方式该申请并入下列专利文献:1998年6月10日提交的美国专利No. 6,229,200,题目为“Saw-Singulated Leadless Plastic Chip Carrier”;1999年4月9日提交的美国专利No. 6,498,099,题目为“Leadless Plastic Chip Carrier With Etch Back Pad Singulation”;以及2004年1月28日提交的美国专利No. 7,049,177,题目为“Leadless Plastic Chip Carrier With Standoff Contacts And Die连接垫”。
技术领域
本发明通常涉及集成电路(IC)封装技术,更特定但非通过限制性的方式涉及无引线IC封装及其相关制造方法。
背景技术
用于集成电路(IC)封装的系统、方法和技术在计算机化全球经济中是非常重要的。最终阶段中的一种方式包括:IC器件的制造是IC芯片的封装。在封装过程中,一个或多个IC芯片安装在封装基板上,连接电触点,然后涂覆焊接材料,所述焊接材料包含电绝缘体,例如环氧或硅酮焊接化合物。所得结构 – 通常称为“IC封装” – 然后连接至其他电气组件,例如印刷电路板(PCB)上的电气组件,以用于计算机中等。
在大部分IC封装中,IC芯片完全被焊接材料覆盖,而电触点至少部分暴露,使得它们可以连接其他电气组件。换言之,电触点被设计为在焊接材料内的IC芯片和焊接材料外的电气组件之间形成电连接。这些电触点的一种最通常的设计是这样的,其中它们形成延伸到焊接材料侧外方的“引线”。引线典型地向下弯曲以和PCB上的电气组件形成连接。
不幸地,外部引线的存在往往明显增加IC封装的尺寸。例如,由于引线的水平延伸,其往往增加穿过IC封装的长度和宽度。这是不利的,因为在其他原因中,尺寸增加在其中PCB间隔受到限制的系统中通常是存在问题的。另外,因为外部引线典型地沿着IC封装的侧面布置,因此IC封装的接脚数目受到IC封装周围线性距离的限制。另外,这些引线需要另外的检查线性同面性的步骤和另外要求的机械维度(并且如果它们不符合规范要修订或废弃)。最后,引线(从结合指开始向下至外部部分的尖端)增加总的电信号长度(焊线 + 引线),这影响IC芯片的电学性能。
认识到和常规IC封装有关的这些和其他问题,研究者已经开发出IC封装,其中外部引线被电触点取代,所述电触点在顶部被焊接材料覆盖,但是在IC封装的底部上暴露,因此它们可以连接位于IC封装下方的电气组件。这些IC封装 – 称为“无引线”IC封装 – 和常规IC封装相比往往占据更少的空间,因为不存在外部引线。另外,这些IC封装消除了对于弯曲引线以形成连接的需要。
常规无引线IC封装的一些例子公开在相关和共同转让的美国专利No. 6,229,200、6,498,099和7,049,177,各公开的全部内容都以引用的方式并入本申请中。其中,这些专利描述和展示了无引线IC封装与制备和使用无引线IC封装的技术的多种设计变体形式。
发明概述
公开的实施方案包括具有多种不同构造的无引线IC封装。在不同的实施方案中,无引线封装可具有电触点、IC芯片、以及IC芯片和电触点之间的连接的变化的构造。变化的连接构造可包括例如不同的倒装芯片构造、丝焊连接构造和焊剂连接构造。所述实施方案还包括具有引线上芯片(引线上芯片)构造的IC封装。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造