[发明专利]测量轴承壳体的凸起量的方法和装置

权利要求书

1.一种确定轴承壳体(1)的凸起量的方法，所述方法包括如下步骤：

a)在多个承载点处夹持所述轴承壳体(1)；

b)向所述轴承壳体(1)的至少一个点施加一个或更多个测试力(F，x)，使所述轴承壳体(1)径向弹性变形；

c)在轴承壳体(1)的一个或更多个测量点处测量轴承壳体的径向变形；

d)根据所测量的变形确定所述凸起量(S_N)。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在步骤b)中，根据以时间控制的力序列施加测试力(F，x)，和在步骤c)中，测量所述变形的时间序列。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，待在步骤d)中确定的所述凸起量(SN)通过使用形状变化模型来确定。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述形状变化模型在步骤a)之前根据材料特性和分析模型确定、基于一系列主壳体通过经验确定、根据生产部件的比较测量来适当地确定、或者通过上述方法的组合来确定。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，一个或更多个承载点在步骤c)之前被施加测试力或者以位移控制的方法被移动。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，承载点中的一个或多个在所述轴承壳体(1)的坐标系中在径向上移位。

7.根据权利要求1至6中一项所述的方法，其特征在于，在步骤b)中，测试力(F，x)被施加到所述轴承壳体(1)的顶点。

8.根据权利要求1至7中一项所述的方法，其特征在于，一个或更多个测试力(F，x)被施加到所述轴承壳体(1)的区域上。

9.根据权利要求1至8中一项所述的方法，其特征在于，所述轴承壳体包括两个分离面(10)和承载背面(12)，并且在步骤c)中对于所述轴承壳体(1)的形状变化的测量在所述轴承壳体(1)的所述背面(12)上的相对于所述各个的分离面(10)近似30°的点处的两个测量点处以非接触的方式进行。

10.根据前述权利要求中一项所述的方法，其特征在于，在步骤b)之前进行的附加步骤中，进行基准测量，用以确定一个或更多个测量点在变形期间的位移差。

11.根据前述权利要求中一项所述的方法，其特征在于，在步骤c)之前，通过作用于所述轴承壳体的分离面(10)的侧向约束力抵消所述轴承壳体(1)的伸展。

12.一种测量轴承壳体(1)的凸起量的装置，包括：

夹持装置(30)，适于在一个或更多个承载点处夹持轴承壳体(1)；

一个或更多个变形装置，适于向所述轴承壳体(1)的至少一个点施加一个或更多个测试力(F，x)；

一个或更多个测量装置(31)，当由所述变形装置向所述轴承壳体(1)上的至少一个点施加一个或更多个测试力(F，x)而使得所述轴承壳体(1)径向弹性变形时，该测量装置(31)能够在一个或更多个点处测量轴承壳体的径向变形；和

确定凸起量的设备，能够根据测量的所述轴承壳体(1)的变形确定所述轴承壳体的凸起量。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述夹持装置(30)的一个或更多个承载点能够借助于所述变形装置被施加测试力(F，x)或者能够被移位控制。

14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，承载点中的一个或多个能够在所述轴承壳体(1)的坐标系中在径向上移位。

15.根据权利要求12至14中一项所述的装置，其特征在于，测试力能够借助于所述变形装置(32)施加到所述轴承壳体(1)的顶点。

16.根据权利要求12至15中一项所述的装置，其特征在于，所述变形装置具有电线性单元和/或压电致动器。

17.根据权利要求12至16中一项所述的装置，其特征在于，一个或更多个测试力(F，x)能够施加到所述轴承壳体(1)的区域上。

18.根据权利要求12至17中一项所述的装置，其特征在于，所述测量装置(31)具有一个或更多个光学传感器。