[发明专利]用于电气测量平面的、可单侧接通的测量结构的测量装置有效

专利信息
申请号: 201080013854.3 申请日: 2010-03-10
公开(公告)号: CN102365557A 公开(公告)日: 2012-02-29
发明(设计)人: M·格拉特哈尔;S·瑞恩;丹尼尔·毕罗;F·克莱芒;迈克·曼克;亚历山大·克里格 申请(专利权)人: 弗劳恩霍弗实用研究促进协会
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/073;G09G3/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人: 张颖玲;武晨燕
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 电气 测量 平面 可单侧 接通 结构 装置
【权利要求书】:

1.一种用于电气测量可单侧在测量面上电接通的测量结构(8)尤其是光 电元件如太阳能电池的测量装置(1、21),具有至少两个用于电接通测量结构 (8)的接通单元(3、3′、23、23′、33、33′)和至少一个用于使测量结构(8) 以测量面平铺在支承元件(2、22、32)上的支承元件(2、22、32),这样设置 支承元件(2、22、32)和接通单元(3、3′、23、23′、33、33′),使得平铺在支 承元件(2、22、32)上的测量结构(8)可通过接通单元在测量面上导电接通, 所述两个接通单元彼此电绝缘,其特征在于:所述测量装置(1、21)具有至少 一个用于连接吸气单元的吸气管道(6、26)和至少一个与吸气管道(6、26) 导流连接的吸气孔,吸气孔这样设置在支承元件(2、22、32)中和/或上,使 得测量结构(8)可通过吸气孔的吸引压紧在支承元件(2、22、32)上,所述 接通单元(3、3′、23、23′、33、33′)可相对于支承元件(2、22、32)移动设 置,所述测量装置(1、21)还具有运动单元,运动单元与接通单元(3、3′、 23、23′、33、33′)作用连接,使得在测量结构(8)平铺到支承元件(2、22、 32)上时,接通单元借助运动单元有选择地压紧到平铺在支承元件(2、22、32) 上的测量结构上,以便电接通测量结构,并且,这样设计测量装置(1、21), 使得接通单元(3、3′、23、23′、33、33′)压紧到测量结构(8)上时,测量结 构(8)仅通过吸引和必要时测量结构(8)的重力压紧到支承元件(2、22、32) 上。

2.根据权利要求1所述的测量装置(1、21),其特征在于:这样构造吸气 孔和运动单元,使得在吸引测量结构(8)到支承元件(2、22、32)上和压紧 接通销到测量结构(8)上,以便电接通测量结构时,将测量结构(8)压紧到 支承元件(2、22、32)上的吸引力之和总是大于将接通单元(3、3′、23、23′、 33、33′)压紧到测量结构(8)的测量面上的接通力之和。

3.根据上述权利要求至少之一的测量装置(1、21),其特征在于:这样构 造所述运动单元,使得接通单元(3、3′、23、23′、33、33′)可借助运动单元有 选择地移动到静止位置和接通位置中,在静止位置中,不接通平铺在支承元件 (2、22、32)上的测量结构(8);在接通位置中,通过接通单元电接通平铺在 支承元件(2、22、32)上的测量结构(8)。

4.根据上述权利要求至少之一的测量装置(1、21),其特征在于:所述测 量装置(1、21)具有至少两个吸气孔,为每个接通单元(3、3′、23、23′、33、 33′)在接通单元的区域中设置一个吸气孔,尤其是以小于1cm、进一步优选小 于5mm的间隔。

5.根据上述权利要求至少之一的测量装置(1、21),其特征在于:所述支 承元件(2、22、32)具有至少一个缺口,接通单元(3、3′、23、23′、33、33′) 在电接通测量结构(8)时穿过支承元件的一个或多个缺口,并且,至少一个接 通单元在接通测量结构(8)时穿过的至少一个缺口构造为吸气孔。

6.根据上述权利要求至少之一的测量装置(1、21),其特征在于:所述运 动单元具有至少一个真空室(4、24、24′、34),所述真空室在一侧与吸气管道 (6、26)连接,在另一侧与至少一个吸气孔导流连接,真空室(4、24、24′、 34)的体积可通过在真空室(4、24、24′、34)中形成负压而进行压缩,并且, 这样在真空室(4、24、24′、34)中设置至少一个接通单元,使得真空室(4、 24、24′、34)压缩引起接通单元压紧到平铺在支承元件(2、22、32)上的测 量结构(8)的测量面上。

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