[发明专利]用于电气测量平面的、可单侧接通的测量结构的测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于电气测量可单侧在测量面上电接通的测量结构，尤其 是一种电气测量光电元件如太阳能电池的测量装置以及方法。

背景技术

在光电元件并且尤其是太阳能电池中，已知所有用于电接通的触点都位于 测量结构的一个测量面上的结构。因此，出于测试的目的，需要在测量装置中 单侧在预规定的接通触点上电接通测量结构，以便校准或测量。尤其是在测量 结构被设置在与测量面相对的一侧以用于发出或转换电磁辐射的情况下，产生 如下问题：一方面，测量面上应进行接通；另一方面，与测量面相对的一侧于 电磁辐射的穿透性方面应在测量或校准过程期间仅受极小影响，因为在测量或 者说校准期间，需要对测量结构加载电磁辐射，并且/或者应测量其在测量过程 期间发出的电磁辐射。尤其在测量可单侧接通的太阳能电池和大平面的LED或 者说OLED元件时，就是这种情况。

已知用于可单侧接通的太阳能电池的测量装置，在这些测量装置中，太阳 能电池以测量面平铺于支承元件上，并且借助玻璃板，压紧到支承元件上。在 支承元件侧，接触销被压紧到太阳能电池的接通触点上，以便实现电接通。

在这种测量装置中不利的是，一方面，太阳能电池平铺在支承元件上，并 且借助玻璃板压紧，构成了复杂的过程，尤其当在生产线中测量多个太阳能电 池时，该过程需要耗费大量时间。另一方面，使用的玻璃板具有吸收和反射特 性，这些特性使测量结果失真，或者说其在测量结果中须经过相应的校准，才 能被考虑。此外，玻璃板在使用期间会受到污染或损坏，从而在测量过程中产 生附加的失真。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于，提供一种用于测量可单侧在测量面上 电接通的测量结构的测量装置和方法，其中，测量结构的与测量面相对的一侧 在测量过程中，于进入或离开测量装置的电磁辐射方面受到极小影响，并且， 与测量面相对的一侧承受较小的机械负荷。此外与目前已知的测量装置相比， 此测量结构的电接通可在较短的时间间隔上进行，并且，测量装置在对污染或 损坏的敏感度方面得到改善。

该任务通过根据权利要求1所述的测量装置以及根据权利要求12所述的方 法来解决。测量装置的有利构型由权利要求2至11得出，方法的有利构型则由 权利要求13至15得出。

本发明的用于电气测量可单侧在测量面上电接通的测量结构，尤其是光电 元件如太阳能电池的测量装置，具有至少两个用于电接通测量结构的接通单元 和至少一个用于使测量结构以测量面平铺在支承元件上的支承元件。这样设置 支承元件和接通单元，使得平铺在支承元件上的测量结构可通过接通单元在测 量面上导电接通。此外，所述两个接通单元彼此电绝缘，因为这两个接通单元 通常与测量结构的相反的电极接通。

本发明的测量装置具有至少一个用于连接吸气单元的吸气管道和至少一个 与吸气管道导流连接、至少导气连接的吸气孔，吸气孔这样设置在支承元件中 和/或上，使得测量结构可通过吸气孔的吸引，压紧在支承元件上。

此外，接通单元可相对于支承元件移动设置，使得当测量结构平铺于支承 元件上时，接通单元可压紧在测量结构的测量面上，以便电接通测量结构。为 了接通单元的压紧，测量装置具有主动的运动单元，其与接通单元作用连接， 使得接通单元可借助运动单元，有选择地压紧到平铺在支承元件上的测量结构 上，以便接通测量结构。

在此这样设计测量装置，使得接通单元压紧到测量结构上时，测量结构仅 通过吸引和必要时测量结构的重力压紧到支承元件上。

因此与已知的现有技术相反，测量结构并不通过玻璃板或类似辅助物被机 械地压紧在支承元件上。相反，在本发明的测量装置中，测量结构仅通过至少 一个吸气孔的吸引压紧在支承元件上。通常情况下，测量通过水平放置的测量 结构来进行，其中测量面朝下，因此，测量结构的重力稍微构成在支承元件上 的压紧力。然而由于典型的测量结构，尤其是太阳能电池，仅具有极小的自重， 其重力与一方面通过吸引产生的力和另一方面通过接通单元压紧到测量结构上 所产生的力相比，通常可以忽略不计。

因此，本发明的测量装置与已知测量装置的主要区别在于：由接通单元施 加到测量结构上的力仅通过对测量结构的吸引和必要时测量结构的重力来平 衡，相反，已知的测量装置则需要机械辅助装置，如上述玻璃板。

由此，本发明的测量装置具有如下优点：