[发明专利]光电子器件有效
申请号: | 201080021372.2 | 申请日: | 2010-07-06 |
公开(公告)号: | CN102428581A | 公开(公告)日: | 2012-04-25 |
发明(设计)人: | 卢茨·赫佩尔 | 申请(专利权)人: | 欧司朗光电半导体有限公司 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48;H01L33/62 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李德山;王萍 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电子 器件 | ||
1.一种光电子器件,具有:半导体本体(1),所述半导体本体具有外延层序列(2),所述外延层序列带有适于产生辐射的有源层(4);和支承体衬底(6),所述支承体衬底借助焊接连接部(7)与半导体本体(1)连接,其中
-支承体衬底(6)具有第一穿通部(8a)和第二穿通部(8b),第一导电连接层(9a)和第二导电连接层(9b)穿过这些穿通部从支承体衬底(6)的朝向半导体本体(1)的第一主面(11)引向支承体衬底(6)的背离半导体本体(1)的第二主面(12),
-支承体衬底(6)具有半导体材料,
-支承体衬底(6)具有侧壁(10),该侧壁至少在第一部分区域(10a)中倾斜于支承体衬底(6)的主面(11,12)延伸,并且
-侧壁(10)在第一部分区域(10a)中设有电绝缘层(13)。
2.根据权利要求1所述的光电子器件,其中第一部分区域(10a)邻接支承体衬底(6)的第二主面(12)。
3.根据权利要求1或2所述的光电子器件,其中第一部分区域(10a)的高度在支承体衬底(6)的高度的10%和50%之间。
4.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中侧壁(10)的第一部分区域(10a)具有在10μm和100μm之间的高度。
5.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中支承体衬底(6)是硅衬底。
6.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中电绝缘层(13)包含氧化硅或氮化硅。
7.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中在第一部分区域(10a)中的支承体衬底(6)的侧壁(10)倾斜于支承体衬底(6)的主面(11,12)延伸,使得支承体衬底(6)的横截面朝第二主面(12)逐渐变细。
8.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中在第一部分区域(10a)中,侧壁(10)以相对于支承体衬底(6)的第二主面(12)的100°和135°之间的钝角α延伸,其中包括边界值。
9.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中侧壁(10)具有邻接支承体衬底(6)的第一主面(11)的第二部分区域(10b),所述第二部分区域垂直于第一主面(11)地延伸。
10.根据权利要求9所述的光电子器件,其中侧壁(10)的第二部分区域(10b)不设有绝缘层。
11.根据上述权利要求之一所述的光电子器件,其中支承体衬底(6)在第一主面或第二主面(11,12)上在导电连接层(9a,9b)之间具有掺杂区(14)用于构建保护二极管。
12.根据权利要求11所述的光电子器件,其中支承体衬底(16)是未掺杂的,并且掺杂区(14)具有p掺杂区域(14a)和n掺杂区域(14b),其中第一导电连接层(9a)与掺杂区(14)的p掺杂区域(14a)导电连接连接,并且第二导电连接层(9b)与掺杂区(14)的n掺杂区域(14b)导电连接。
13.根据上述权利要求12所述的光电子器件,其中外延层序列(2)具有p掺杂的半导体区域(3)和n掺杂的半导体区域(5),其中第一导电连接层(9a)与n掺杂的半导体区域(5)导电连接,并且第二导电连接层(9b)与p掺杂的半导体区域(3)导电连接。
14.根据权利要求11至13之一所述的光电子器件,其中掺杂区(14)设置在支承体衬底(6)的第一主面(11)上。
15.一种用于制造根据上述权利要求之一所述的光电子器件的方法,包括如下步骤:
-制造由多个半导体本体(1)和作用为支承体衬底(6)的半导体晶片构成的复合物,
-在支承体衬底(6)中产生侧壁(10)的第一部分区域(10a),其中在第一部分区域中侧壁倾斜于支承体衬底(6)的主面(11,12)延伸,
-将电绝缘层(13)在第一部分区域(10a)中施加到侧壁(10)上,以及
-将半导体晶片分割成单个的光电子器件,其中在分割时形成侧壁(10)的第二区域(10b),所述第二区域未设有电绝缘层。
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