[发明专利]膨胀石墨薄片

权利要求书

1.一种膨胀石墨薄片，其特征在于，全部杂质分别为低于检测界限的水平。

2.根据权利要求1所述的膨胀石墨薄片，其特征在于，上述杂质包含Al、B、Be、Ca、Cu、Fe、K、Li、Mg、Na、Ni、S、Si、Ti、V以及Zn，且Al、B、Be、Ca、Cu、Fe、Li、Mg、Ni、S、Ti、V以及Zn的量使用ICP发光法测定，K以及Na的量使用原子吸收分光光度法测定，Si的量使用吸光光度法测定。

3.根据权利要求2所述的膨胀石墨薄片，其特征在于，上述Al的量低于0.08mass ppm、B的量低于0.1mass ppm、Be的量低于0.02mass ppm、Ca的量低于0.04mass ppm、Cu的量低于0.08mass ppm、Fe的量低于0.04mass ppm、K的量低于0.1mass ppm、Li的量低于0.01mass ppm、Mg的量低于0.02mass ppm、Na的量低于0.05mass ppm、Ni的量低于0.1massppm、S的量低于1.0mass ppm、Si的量低于0.1mass ppm、Ti的量低于0.09mass ppm、V的量低于0.07mass ppm、Zn的量低于0.1mass ppm。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的膨胀石墨薄片，其特征在于，上述杂质是指将膨胀石墨薄片用捆包材料进行捆包之后，从该捆包材料中取出后状态的使用阶段下的杂质。

5.根据权利要求4所述的膨胀石墨薄片，其特征在于，上述捆包材料中含有B、Ba、Ca、Cu、Li、Ni、Mn、Mo、Ti以及Pb，并且当使用ICP-MS法进行测定时，全部元素分别为低于检测界限的水平。

6.根据权利要求5所述的膨胀石墨薄片，其特征在于，上述捆包材料中含有Al、Fe、Cr、Mg、Na、V以及Zn，并且当使用ICP-MS法进行测定时，Al的量为2×10^-7mol/m²以下、Fe的量为3×10^-7mol/m²以下、Cr的量为2×10^-7mol/m²以下、Mg的量为2×10^-7mol/m²以下、Na的量为5×10^-7mol/m²以下、V的量为2×10^-7mol/m²以下、Zn的量为2×10^-7mol/m²以下。