[发明专利]调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法

权利要求书

1.一种测试装置，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括：

交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；

期望值数据生成部，其用于生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将所述被测试信号所期望的期望值波形与所述多个阈值进行比较时所述期望值波形与各阈值进行交叉的定时；

比较部，其用于比较所述交叉定时数据与所述定时期望值数据。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述交叉定时测定部包括：

多值比较器，其是将所述被测试信号的电平与所述多个阈值进行比较，并生成按各个阈值表示比较结果的比较数据；

时间数字转换器，其通过接收每个所述阈值的所述比较数据，并测定所述比较数据发生变化的定时，从而生成所述交叉定时数据。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述时间数字转换器包括：

锁存器阵列，其以规定的频率，对来自所述多值比较器的比较数据进行采样；

编码器，其根据由所述锁存器阵列输出的锁存数据，来生成所述交叉定时数据。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的测试装置，其特征在于，还包括波形再形成部，其通过接收每个阈值的所述交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成所述被测试信号的波形。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述波形再形成部沿时间轴方向等间距地对每个阈值的所述交叉定时数据进行插补。

6.一种方法，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括以下步骤：

生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；

生成定时期望值数据，所述定时期望值数据表示在将所述被测试信号所期望的期望值波形与所述多个阈值进行比较时所述期望值波形与各阈值进行交叉的定时；

对所述交叉定时数据与所述定时期望值数据进行比较。

7.一种测试装置，其对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试，其特征在于，包括：

交叉定时测定部，其用于生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；

波形再形成部，其通过接收每个阈值的所述交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成所述被测试信号的波形。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，还包括波形解析部，其对由所述波形再形成部再次形成的所述被测试信号的波形进行解析。

9.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述波形再形成部沿时间轴方向等间距地对每个阈值的所述交叉定时数据进行插补。

10.一种方法，其是对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

生成交叉定时数据，所述交叉定时数据表示所述被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时；

通过接收每个阈值的所述交叉定时数据，并在时间方向和振幅方向进行插补，从而再次形成所述被测试信号的波形。