[发明专利]调制后的被测试信号的测试装置以及测试方法无效
申请号: | 201080037527.1 | 申请日: | 2010-08-09 |
公开(公告)号: | CN102483440A | 公开(公告)日: | 2012-05-30 |
发明(设计)人: | 石田雅裕;渡边大辅;冈安俊幸 | 申请(专利权)人: | 株式会社爱德万测试 |
主分类号: | G01R31/319 | 分类号: | G01R31/319 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华;郭红丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 调制 测试 信号 装置 以及 方法 | ||
技术领域
本发明涉及测试装置。
背景技术
一直以来,有线数字通信的主流是利用时分复用(TDM)方式的2值传输,在进行大容量传输的情况下,通过并行传输、高速传输来实现。当达到并行传输的物理极限时,则进行串行传输,即利用高速接口(I/F)电路进行数个Gbps~10Gbps以上的数据速率的高速传输。但是,数据速率的高速化也有极限,因传输线路的高频损失和反射而出现BER(Bit Error Rate(比特误码率))恶化的问题。
另一方面,无线数字通信方式是在载波信号中搭载多比特信息进行发送接收。总之,数据速率不受载波频率的直接限制。例如,作为最基本的正交调制解调方式的QAM(Quadrature Amplitude Modulation(正交调幅))传输方式,能够用一个信道来实现4值传输。关于64QAM,能够用一个载波来实现64值传输。也就是说,即使不提高载波频率,也能够利用这种多值调制方式提高传输容量。
这种调制解调方式不局限于无线通信,也能够用于有线通信,并已经以PAM(Pulse Amplitude Modulation(脉冲振幅调制))、QPSK(Quadrature Phase Shift Keying(四相相移键控))或DQPSK(Differential QPSK(差分四相相移键控))的方式开始被应用。尤其是在光通信领域中,在一条光纤上能搭载多少信息在成本方面是很重要的,技术发展趋势正从2值TDM转移到利用了这些数字调制的传输。
发明内容
发明所要解决的课题
在不久的将来,这种数字调制解调方式有可能应用于以存储器和SoC(System On a Chip(单片系统))为首的设备之间的有线接口,但现状是,并不存在能够对这种设备进行大批量测试的多信道的测试装置。
虽然存在对现有无线通信设备进行测试的混合测试装置和RF(Radio Frequency(无线电频率))测试模块,但由于现有无线通信设备中的用于I/O(输入输出)的通信端口(I/O端口)通常仅限于一个或数个,因此以往的测试装置和测试模块只包括数个通信端口。因而,在存储器等具有数十~数百信道以上的I/O端口的设备的测试中,使用这些测试装置和测试模块是很困难的。
另外,在现有的RF信号的测试装置中,将从DUT(Device Under Test(被测试设备))输出的信号进行A/D(模拟数字)转换,对该结果所得的庞大数据进行信号处理(还包括软件处理),由此来判断期望值。因而,测试时间会变长。
并且,现有测试装置的数字针(digital pin)基本上仅能假定为2值(根据情况为3值,即还包括高阻抗状态Hi-Z)的信号测试,不具有数字调制信号的解调功能。
如果将存储器和MPU(Micro Processing Unit(微处理器))这类设备的I/O都转换为数字调制方式,则数十~数百信道以上的I/O均存在于一个设备中,需要数百个同时进行测试。总之,需要具有用数千个信道进行数字调制解调信号的输入输出的测试装置,由于测试装置的CPU资源也有极限,因此要求在硬件水平上的实时测试。
除此之外,如果能够利用对测试信号进行实时测试的测试装置,则对制造者来说是非常有用的,所述测试信号通过振幅调制(AM)、频率调制(FM)、幅移键控(ASK)、相移键控(PSK)等各种方式进行调制。
本发明是鉴于这种状况而完成的,其某一实施方式的目的之一例如在于,提供能够对调制后的被测试信号进行高速测试的测试装置、测试方法。
用于解决课题的手段
本发明的一个实施方式涉及对来自被测试设备的调制后的被测试信号进行测试的测试装置。测试装置包括:交叉定时测定部,其用于生成交叉定时数据,所述交叉定时数据表示被测试信号的电平分别与多个阈值进行交叉的定时;期望值数据生成部生成定时期望值数据,所述定时期望值数据表示其在将被测试信号所期望的期望值波形与多个阈值进行比较时期望值波形与各阈值进行交叉的定时;比较部,其用于比较交叉定时数据与定时期望值数据。
当根据该方式时,能够基于被测试信号的电平发生变化的定时,而不是基于对被测试信号进行解调所得的基带信号,对被测试设备的好坏和被测试信号的波形质量进行评价。
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