[发明专利]电子器件、尤其是光学或光电子器件及其制造方法无效
申请号: | 201080043989.4 | 申请日: | 2010-09-20 |
公开(公告)号: | CN102549784A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | K.赫恩 | 申请(专利权)人: | 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L33/48 | 分类号: | H01L33/48 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 杜荔南;李家麟 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子器件 尤其是 光学 光电子 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种电子器件、尤其是光学或光电子器件,包括具有热塑性塑料(5)的组件(6),该热塑性塑料(5)具有包括核(2)和包裹物(3)的颗粒(1),其中所述包裹物(3)设置在核(2)的表面上,并且其中所述核(2)包括铝。
2.根据权利要求1的器件,
其中所述包裹物(3)直接设置在所述核(2)的表面上。
3.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述包裹物(3)包括氧化物、氮化物或者氮氧化物。
4.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述包裹物(3)具有大于10nm的厚度。
5.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述包裹物(3)具有小于100μm的厚度。
6.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述包裹物(3)使核(2)电绝缘。
7.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述包裹物(3)在其表面上具有涂层(4)。
8.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述颗粒(1)具有作为d50值测量的10nm至50μm的中等粒子大小。
9.根据前述权利要求之一的器件,
其中颗粒(1)相对于热塑性塑料(5)的浓度在0.001至5 Gew-%之间。
10.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述核(2)具有至少99 mol-%的铝含量。
11.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述核(2)包括铝合金。
12.根据前述权利要求之一的器件,
其中所述组件(6)是壳体。
13.一种用于制造电子器件、尤其是光学或光电子器件的组件(6)的方法,
A)提供热塑性塑料(5),
B)嵌入包括核(2)和包裹物(3)的颗粒(1),其中所述包裹物(3)设置在核(2)的表面上,并且其中所述核(2)包括铝,
C)使组件(6)成型。
14.根据权利要求13的方法,
其中以位于前面的方法制造方法步骤B)中的颗粒(1),该位于前面的方法包括如下步骤:
a)熔化铝,
b)使来自方法步骤a)的熔化物雾化,从而构造核(2),
c)研磨来自方法步骤b)的核(2),
d)处理来自方法步骤c)的核(2),使得在核(2)的表面上构造包裹物(3)。
15.根据权利要求14的方法,
其中在方法步骤B)之前和在方法步骤d)之后在方法步骤e)中对颗粒(1)进行干燥。
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