[发明专利]外观检查装置有效
申请号: | 201080056196.6 | 申请日: | 2010-12-07 |
公开(公告)号: | CN102713579A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 松田晋也;青木广志 | 申请(专利权)人: | 第一实业视检系统股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/85 | 分类号: | G01N21/85;G01N21/84 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人: | 孙皓晨;姚卫华 |
地址: | 日本大阪府*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 外观 检查 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种装置,检查医药品(片剂、胶囊等)、食品、机械零件或电子零件等(以下,称为“检查对象物”)的外观。
背景技术
以往,作为检查所述检查对象物表面的外观的装置,已知有例如日本专利特开昭63-53452号公报(先前例1)或日本专利特开2004-317126号公报(先前例2)中公开的装置。
该先前例1的检查装置是对检查对象物的表面照射漫射光,利用摄像装置适当拍摄表面,通过对所得的灰度图像进行分析,检测存在于检查对象物表面上的污痕或印刷部,判别其是否合适。
该检查装置是通过对检查对象物表面照射漫射光而从所有方向均质地照明表面,由此,获得将存在于表面上的凹凸取出、即抑制产生由凹凸造成的阴影且使表面的图形(污痕或印刷部)强调的灰度图像。
另一方面,所述先前例2的检查装置是对检查对象物表面照射激光狭缝光,通过摄像装置适当地拍摄受到照射的激光狭缝光的图像,按照光切割法,分析所得图像,取得检查对象物表面的有关高度的信息,并依据所得高度信息,检测存在于检查对象物的表面上的划痕或缺损等,而且,算出检查对象物的体积。
专利文献
专利文献1:日本专利特开昭63-53452号公报
专利文献2:日本专利特开2004-317126号公报
发明内容
【发明要解决的问题】
然而,所述先前例的检查装置内、先前例1的检查装置中存在如下说明的问题。
即,如上所述,先前例1的检查装置是意图通过对检查对象物表面照射漫散光来抑制由表面上存在的凹凸引起的阴影产生,强调表面上存在的图形(污痕或印刷部),但当表面上存在较大的凹凸、例如深度较深的刻印时,存在无法完全消除其阴影的问题。
在较深的刻印的情况下,难以与表面同等程度地照明刻印的内面、尤其底部,结果,该底部会产生阴影,从而拍摄到该部分成为深色的灰度图像,因此,尽管赋予合适的刻印,但仍判定为不良品。
尤其在所述医药品的情况下,通常在其表面进行文字等刻印,但所述先前例1的装置对其无法进行准确的检查。
另一方面,由于医药品要求高度保证,所以,若能准确地进行刻印部检查或表面缺损等检测,则极为有益。
本发明是鉴于以上实际情况研制而成,其目的在于提供一种外观检查装置,即便是表面具有较深凹凸的物品,也可以准确地检查该凹凸是否合适、或表面污点等缺陷。
【解决问题的技术手段】
为实现所述目的,本发明涉及一种外观检查装置,其包括:
输送单元,沿着特定的输送路径,输送检查对象物;
表面形状检查单元,检查由所述输送单元输送的所述检查对象物的表面形状;以及
表面图形检查单元,检查同样由所述输送单元输送的所述检查对象物的表面图形;且
所述表面形状检查单元包括:狭缝光图像摄像部,配设在所述输送路径附近,将带状狭缝光以其照射路线与所述检查对象物的输送方向正交的方式,照射到所述检查对象物表面,并且从摄像光轴沿着所述检查对象物的输送方向且与照射到所述检查对象物的狭缝光的光轴交叉的方向,拍摄对所述检查对象物照射所述狭缝光时的图像;以及形状判定部,依据由该狭缝光图像摄像部拍摄的图像,辨识所述检查对象物表面的形状特征,判定该形状是否合适;
所述表面图形检查单元包括:灰度图像摄像部,相较所述狭缝光图像摄像部配设在上游侧或下游侧的所述输送路径附近,对所述检查对象物的表面照射漫射光,拍摄由该漫射光照明的检查对象物表面的灰度图像;以及图形判定部,依据由该灰度图像摄像部拍摄的灰度图像,辨识所述检查对象物表面的图形特征,判定该图形是否合适;
进而,所述图形判定部构成为从所述形状判定部接收与至少所述检查对象物表面的存在凹凸部的区域相关的信息,将接受信息的区域设定为不进行检查的非检查区域、或者以比其他区域中的检查灵敏度低的灵敏度进行检查的低灵敏度检查区域,判定所述图形是否合适。
根据本发明的外观检查装置,由所述输送单元输送的检查对象物是其表面形状由所述表面形状检查单元进行检查。即,在所述狭缝光图像摄像部中,将带状狭缝光照射到检查对象物的表面,拍摄其反射光,在形状判定部中,依据所述拍摄图像,通过例如光切割法,计算检查对象物表面的有关三维形状的数据,并根据计算的数据,辨识表面形状的特征,判定其是否合适。
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