[发明专利]色谱质量分析装置有效
申请号: | 201080070995.9 | 申请日: | 2010-12-28 |
公开(公告)号: | CN103282768A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 向畑和男 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;H01J49/42 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 色谱 质量 分析 装置 | ||
1.一种色谱质量分析装置,具备:色谱仪和质量分析装置,其中,该色谱仪在时间方向上分离试样中的成分,该质量分析装置具有根据质量电荷比对源自利用该色谱仪分离出的试样成分的离子进行分离的四极滤质器,该色谱质量分析装置的特征在于,还具备:
a)四极驱动单元,其为了选择性地使具有特定的质量电荷比的离子通过,对构成上述四极滤质器的各电极施加直流电压和高频电压;
b)控制单元,其在使源自目标成分的目标离子通过上述四极滤质器来进行检测时,控制上述四极驱动单元来变更施加电压,以在预定的多个质量分辨率中依次切换质量分辨率;以及
c)色谱图制作单元,其基于在针对目标离子设定了不同的质量分辨率的条件下分别得到的数据,分别制作提取离子色谱图。
2.根据权利要求1所述的色谱质量分析装置,其特征在于,
还具备d)色谱图评价单元,该色谱图评价单元在利用上述色谱图制作单元制作出的各提取离子色谱图中提取与上述目标成分对应的峰并分别计算SN比,比较该SN比来选择SN比最佳的质量分辨率作为最佳条件。
3.一种色谱质量分析装置,具备色谱仪和质量分析装置,其中,该色谱仪在时间方向上分离试样中的成分,该质量分析装置具有根据质量电荷比对源自利用该色谱仪分离出的试样成分的离子进行分离的四极滤质器,该色谱质量分析装置的特征在于,还具备:
a)四极驱动单元,其为了选择性地使具有特定的质量电荷比的离子通过,对构成上述四极滤质器的各电极施加直流电压和高频电压;
b)控制单元,其为了以预定的多个质量分辨率分别对同一试样执行质量分析,控制上述四极驱动单元来变更施加电压,以在对于同一试样的反复分析中的每次分析时依次切换质量分辨率;
c)色谱图制作单元,其基于在对同一试样设定了不同的质量分辨率的条件下分别得到的数据,分别制作至少包括与该试样中的同一目标成分对应的峰的提取离子色谱图;以及
d)色谱图评价单元,其在利用上述色谱图制作单元制作出的各提取离子色谱图中提取与上述目标成分对应的峰并分别计算SN比,比较该SN比来选择SN比最佳的质量分辨率作为最佳条件。
4.根据权利要求2或3所述的色谱质量分析装置,其特征在于,
还具备分析条件自动设定单元,该分析条件自动设定单元为了对源自上述试样成分的离子进行质量分析或者对包括上述目标成分的试样进行质量分析,将通过上述色谱图评价单元被选择为最佳条件的质量分辨率设定为分析条件。
5.根据权利要求2或3所述的色谱质量分析装置,其特征在于,
还具备定量运算单元,该定量运算单元利用与通过上述色谱图评价单元被选择为最佳条件的质量分辨率相对应的提取离子色谱图对上述目标成分进行定量。
6.根据权利要求1至5中的任一项所述的色谱质量分析装置,其特征在于,
上述质量分析装置是仅具有一个上述四极滤质器的装置,上述控制单元基于选择离子监视测量模式来进行目标成分的质量分析。
7.根据权利要求1至5中的任一项所述的色谱质量分析装置,其特征在于,
上述质量分析装置是隔着碰撞单元而在该碰撞单元的前后分别具有上述四极滤质器的装置,上述控制单元一边对前级的四极滤质器和后级的四极滤质器各自的质量分辨率的组合进行切换,一边基于多重反应监视测量模式或者选择反应监视测量模式对目标成分进行质量分析。
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