[发明专利]色谱质量分析装置有效

专利信息
申请号: 201080070995.9 申请日: 2010-12-28
公开(公告)号: CN103282768A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 向畑和男 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62;H01J49/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 色谱 质量 分析 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种由色谱仪(chromatograph)和四极型质量分析装置组合而成的色谱质量分析装置,其中,该色谱仪在时间方向上分离试样中的成分,该四极型质量分析装置将四极滤质器用作根据质量电荷比(m/z)分离离子的质量分析器。在此所说的四极型质量分析装置当然包括具备单个四极滤质器的质量分析装置,还包括三重四极型质量分析装置,该三重四极型质量分析装置为了进行MS/MS分析而隔着碰撞单元地配置了两个四极滤质器。

背景技术

由于使用四极滤质器作为质量分析器的四极型质量分析装置小型且比较廉价,因此是应用最广的质量分析装置之一。在四极型质量分析装置中,对构成四极滤质器的四根杆电极分别施加直流电压和高频电压,由此在由杆电极所围成的空间内形成四极电场,利用该电场使离子一边振动一边前进,并且使不适于特定条件的离子在途中发散来进行去除。

一般地,在作为分析对象的试样中除了目标成分以外还存在各种杂质,因此为了消除这样的杂质的影响并进行目标成分的定性、定量,而利用由液相色谱仪、气相色谱仪等色谱仪和上述质量分析装置组合而成的色谱质量分析装置。在利用色谱质量分析装置对已知的目标成分进行定量的情况下,由于想要观测的离子的质量电荷比已知,因此使质量分析装置在选择离子监视(SIM)测量模式下进行动作,锁定作为目标的一至多个质量电荷比反复观测离子的强度。数据处理装置基于通过进行这样的测量而得到的数据来制作特定质量电荷比下的表示时间经过与离子强度的关系的提取离子色谱图(也称为质量色谱图),在该色谱图中求出在目标成分的保持时间附近出现的峰的面积,将该面积换算为目标成分的含量(参照专利文献1等)。因而,在色谱质量分析装置中,为了提高目标成分的定量性,提高提取离子色谱图的品质、具体地说提高SN比是重要的。

在四极型质量分析装置中,能够通过改变对四极滤质器的杆电极施加的高频电压与直流电压之比来调整质量分辨率,在现有的色谱质量分析装置中还使得用户能够设定SIM测量时的质量分辨率。一般地,当提高质量分辨率时离子选择性提高,因此不易受到质量电荷比接近的其它离子的干扰。另一方面,峰所反映的离子量减少,因此造成离子强度下降,灵敏度降低。

这样,在质量分辨率的设定中质量分辨率与灵敏度处于折中关系。需要如上所述那样提高提取离子色谱图的品质以提高目标成分的定量性,但是一概而论为是为此而通过某种程度地牺牲灵敏度来提高质量分辨率比较好,或者是相反地通过某种程度地牺牲质量分辨率来提高灵敏度比较好。原因是这取决于测量对象的试样的种类、状态、色谱的流动相的种类等分析条件等。因此,如果不实际测量试样并收集数据则无法获知设定什么样的质量分辨率对于获取品质良好的提取离子色谱图是恰当的,需要用户亲自进行多次测量来找出恰当的质量分辨率以使定量性最佳。

另外,使用三重四极型质量分析装置作为色谱的检测器来基于多重反应监视(MRM)测量模式、选择反应监视(SRM)测量模式进行MS/MS分析时情况也相同。在这种情况下,能够设定前级的四极滤质器的质量分辨率和后级的四极滤质器的质量分辨率,因此需要改变前级和后级的质量分辨率的组合来进行多次测量以使定量性最佳,,这对于用户来说相当麻烦。

专利文献1:日本特开2000-304735号公报

发明内容

发明要解决的问题

本发明是为了解决上述问题而完成的,其第一目的在于提供一种用户不进行麻烦且复杂的操作就能够获取恰当的质量分辨率下的提取离子色谱图的色谱质量分析装置。另外,本发明的第二目的在于提供一种用户不进行麻烦且复杂的操作就能够设定恰当的质量分辨率并进行高精度和再现性的定量分析的色谱质量分析装置。

用于解决问题的方案

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