[发明专利]一种小型化无振快速温变试验装置

权利要求书

1.一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于包括下箱体（1）、上箱体（11）、试验腔体（10）；下箱体（1）包括下绝热隔板（2）、下半导体制冷器固定套件（3）、下水冷台（4）、下支撑螺柱（5）、下大功率半导体制冷器（6）、下双级半导体制冷器（7）、下绝热材料颗粒层（8）和下水管口（9），上箱体（11）包括上绝热隔板（12）、上半导体制冷器固定套件（13）、上水冷台（14）、上支撑螺柱（15）、上大功率半导体制冷器（16）、上双级半导体制冷器（17）、绝热材料颗粒层（18）和上水管口（19）；下箱体（1）内中心从下到上依次设有下支撑螺柱（5）、下水冷台（4）、下半导体制冷器固定套件（3），下半导体制冷器固定套件（3）内从下到上依次设有下大功率半导体制冷器（6）、下双级半导体制冷器（7），在下支撑螺柱（5）、下水冷台（4）周围填充有下绝热材料颗粒层（8），在下半导体制冷器固定套件（3）周围设有下绝热隔板（2）；上箱体（11）内中心从上到下依次设有上支撑螺柱（15）、上水冷台（14）、上半导体制冷器固定套件（13），上半导体制冷器固定套件（13）内从上到下依次设有上大功率半导体制冷器（16）、上双级半导体制冷器（17），在上支撑螺柱（15）、上水冷台（14）周围填充有上绝热材料颗粒层（18），在上半导体制冷器固定套件（13）周围设有上绝热隔板（12）；由下绝热隔板（2）、下半导体制冷器固定套件（3）、下双级半导体制冷器（7）、上绝热隔板（12）、上半导体制冷器固定套件（13）和上双级半导体制冷器（17）围成试验腔体（10）。

2.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的试验腔体（10）下部外侧设有下绝热隔板凹槽（21），在下绝热隔板（2）上设有下绝热隔板数据线槽（20）和下绝热隔板固定螺钉通孔（22）。

3.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的试验腔体（10）上部外侧设有上绝热隔板凸台（24），在上绝热隔板（12）上设有上绝热隔板数据线槽（23）和上绝热隔板固定螺钉通孔（25）。

4.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的下水冷台（4）设有两个下水冷台进水口（26）和两个下水冷台出水口（27），下水冷台进水口（26）和下水冷台出水口（27）通过下水冷台水道（28）相连通。

5.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的上水冷台（14）设有两个上水冷台进水口（29）和两个上水冷台出水口（30），上水冷台进水口（29）和上水冷台出水口（30）通过上水冷台水道（31）相连。

6.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的下水冷台（4）上设有下大功率半导体制冷器下沉凹槽（32）、下半导体制冷器固定套件固定螺孔（33）和下绝热隔板固定螺孔（34）。

7.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的上水冷台（14）上设有上大功率半导体制冷器下沉凹槽（35）、上半导体制冷器固定套件固定螺孔（36）和上绝热隔板固定螺孔（37）。

8.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的下半导体制冷器固定套件（3）上设有下大功率制冷器固定卡槽（39）、下双级制冷器固定卡槽（41）和下制冷器电源线槽（38），下半导体制冷器固定套件（3）通过下半导体制冷器通孔（40）固定于下水冷台（4）上。

9.如权利要求1所述的一种小型化无振快速温变试验装置，其特征在于所述的上半导体制冷器固定套件（13）设有上大功率制冷器固定卡槽（43）、上双级制冷器固定卡槽（45）和上制冷器电源线槽（42），上半导体制冷器固定套件（13）通过上半导体制冷器通孔（44）固定于上水冷台（14）上。