[发明专利]一种小型化无振快速温变试验装置

说明书

技术领域

本发明涉及温变试验装置，尤其涉及一种小型化无振快速温变试验装置。

背景技术

在光学相干检测中，周围环境的微小变化就会对检测精度造成很大影响，甚至造成检测结果错误，而评价热冲击应力对光学系统或部件的影响时必须保证测试环境不受其他应力因素的影响，但是现有的光学相干检测系统通常采用电学系统的检测设备，从而引入了各种外部噪声，影响评估结果。

为解决此问题，本发明采用无振动的半导体制冷器作为制冷单元，多水道水冷台作为散热单元，绝热隔板密封，绝热材料颗粒作为填充，很好的排除了各种外界干扰，既可以加热又可以制冷，温变速率达到30℃/分钟，可广泛应用于光学相干检测领域，尤其是分离振动干扰的高精度相干检测系统。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种小型化无振快速温变试验装置。

小型化无振快速温变试验装置包括下箱体、上箱体、试验腔体；下箱体包括下绝热隔板、下半导体制冷器固定套件、下水冷台、下支撑螺柱、下大功率半导体制冷器、下双级半导体制冷器、下绝热材料颗粒层和下水管口，上箱体包括上绝热隔板、上半导体制冷器固定套件、上水冷台、上支撑螺柱、上大功率半导体制冷器、上双级半导体制冷器、绝热材料颗粒层和上水管口；下箱体内中心从下到上依次设有下支撑螺柱、下水冷台、下半导体制冷器固定套件，下半导体制冷器固定套件内从下到上依次设有下大功率半导体制冷器、下双级半导体制冷器，在下支撑螺柱、下水冷台周围填充有下绝热材料颗粒层，在下半导体制冷器固定套件周围设有下绝热隔板；上箱体内中心从上到下依次设有上支撑螺柱、上水冷台、上半导体制冷器固定套件，上半导体制冷器固定套件内从上到下依次设有上大功率半导体制冷器、上双级半导体制冷器，在上支撑螺柱、上水冷台周围填充有上绝热材料颗粒层，在上半导体制冷器固定套件周围设有上绝热隔板；由下绝热隔板、下半导体制冷器固定套件、下双级半导体制冷器、上绝热隔板、上半导体制冷器固定套件和上双级半导体制冷器围成试验腔体。

所述的试验腔体下部外侧设有下绝热隔板凹槽，在下绝热隔板上设有下绝热隔板数据线槽和下绝热隔板固定螺钉通孔。所述的试验腔体上部外侧设有上绝热隔板凸台，在上绝热隔板上设有上绝热隔板数据线槽和上绝热隔板固定螺钉通孔。所述的下水冷台设有两个下水冷台进水口和两个下水冷台出水口，下水冷台进水口和下水冷台出水口通过下水冷台水道相连通。所述的上水冷台设有两个上水冷台进水口和两个上水冷台出水口，上水冷台进水口和上水冷台出水口通过上水冷台水道相连。  所述的下水冷台上设有下大功率半导体制冷器下沉凹槽、下半导体制冷器固定套件固定螺孔和下绝热隔板固定螺孔。所述的上水冷台上设有上大功率半导体制冷器下沉凹槽、上半导体制冷器固定套件固定螺孔和上绝热隔板固定螺孔。所述的下半导体制冷器固定套件上设有下大功率制冷器固定卡槽、下双级制冷器固定卡槽和下制冷器电源线槽，下半导体制冷器固定套件通过下半导体制冷器通孔固定于下水冷台上。所述的上半导体制冷器固定套件设有上大功率制冷器固定卡槽、上双级制冷器固定卡槽和上制冷器电源线槽，上半导体制冷器固定套件通过上半导体制冷器通孔固定于上水冷台上。

光学相干检测对外界环境有很高要求，任何外界的扰动对会对检测精度造成很大影响甚至造成检测结果错误，而评价热冲击应力对光学系统或部件的影响时必须保证测试环境不受其他应力因素的影响，但是现有的光学相干检测系统通常采用电学系统的检测设备，从而引入额外的机械振动，影响评估结果。本发明采用无振动的半导体制冷器作为制冷单元，多水道水冷台作为散热单元，绝热隔板密封，绝热材料颗粒作为填充，很好的排除了各种外界干扰，既可以加热又可以制冷，温变速率达到30℃/分钟，可广泛应用于光学相干检测领域，尤其是分离振动干扰的高精度相干检测系统。

附图说明

图1为小型化无振快速温变试验装置的结构示意图；

图2为本发明的下绝热隔板和上绝热隔板示意图；

图3为本发明的下水冷台和上水冷台内部水道走向示意图；

图4为本发明的下水冷台和上水冷台表面俯视图；

图5为本发明的下半导体制冷器固定套件和上半导体制冷器固定套件示意图；