[发明专利]一种闪存芯片的测试方法和闪存芯片有效
| 申请号： | 201110006680.4 | 申请日： | 2011-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN102592679A | 公开（公告）日： | 2012-07-18 |
| 发明（设计）人： | 苏志强;舒清明 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C16/02 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 闪存 芯片 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种闪存芯片的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
外部测试机台对并行测试的待测芯片发出一个操作指令；
待测芯片执行操作指令；
待测芯片内部的状态机自动发送操作指令给待测芯片，完成待测芯片的测试。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在所述待测芯片执行操作指令之后，校验待测芯片内的所有存储单元是否通过测试，若是，则停止操作；反之，则状态机机自动发送操作指令给待测芯片。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在待测芯片的所有存储单元通过测试后，状态机将测试通过信号返回给外部测试机台。
4.一种闪存芯片，其特征在于，包括：
操作指令接收模块，用于接收操作指令；
状态机，对外部测试机台的发出的操作指令进行智能分析，并自动发出操作指令给操作指令接收模块。
5.如权利要求4所述的闪存芯片，其特征在于，所述闪存芯片还包括校验模块，校验闪存芯片的执行结果，并将结果发送给状态机。
6.如权利要求4或5所述的闪存芯片，其特征在于，所述状态机为逻辑控制单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京兆易创新科技有限公司，未经北京兆易创新科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110006680.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
