[发明专利]平面控制测量不降等级的测算方法无效
申请号: | 201110023698.5 | 申请日: | 2011-01-20 |
公开(公告)号: | CN102168968A | 公开(公告)日: | 2011-08-31 |
发明(设计)人: | 姚念斌;姚源颂;李忠才;姚颖颖;张风娥 | 申请(专利权)人: | 姚念斌 |
主分类号: | G01C3/26 | 分类号: | G01C3/26;G01C3/28;G01C1/00 |
代理公司: | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人: | 刘燕丽 |
地址: | 274500 山东省菏泽*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 控制 测量 不降 等级 测算 方法 | ||
1.一种平面控制测量不降等级的测算方法,其特征在于:由以下步骤组成:
(1)布点:
有已知G(A,B)和S(X,Y)两个点,从已知两点向欲测方向布点1和点2,这四点形成一组测量计算“环”,这四点彼此都要通视,且G1、12、2S、SG、G2、S1中最小长度不小于200米;
然后布3点和4点,同样1、2、3、4四点也形成一组测量计算“环”,对这一组点的要求与第一组点的要求完全相同;
以后的布点方法以此类推,布点的多少至满足施工需要为止;
(2)测量:测站点至目标点平距法
①先在S点通过脚架架好全站仪,2、1、G都架好棱镜并使棱镜面对向S,点标志用钢筋刻十字丝为好,以对中整平器对全站仪和棱镜进行精确对中整平;
在常规测量模式下分别用正镜和倒镜测出S2、S1、SG的平距,算出正倒镜的平均值;
②然后在G点架好全站仪,2、1、S都架好棱镜并使棱镜面对向G,点标志用钢筋刻十字丝为好,以对中整平器对全站仪和棱镜进行精确对中整平;
在常规测量模式下分别用正镜和倒镜测出G1、G2、GS的平距,算出正倒镜的平均值;
③在1点架好全站仪,使G点和2点的棱镜面对向1点,在常规测量模式下分别用正镜和倒镜测出12、1G的平距,算出正倒镜的平均值;
(3)计算、校核:采用卡西欧5800可编程计算器进行
假想计算者站在欲求点1或2,面对两已知点G 、S的连线分左右,左侧已知点坐标用G (A,B)表示,右测已知点坐标用S (X,Y)表示;
输入G点的平面坐标(A,B),输入S点的平面坐标(X,Y), 输入1点右平距即S 1的平均值,输入测站在右边时所测已知基本边SG的平均值,输入1点左平距即G1的平均值,输入测站在左边时所测已知基本边G S的平均值,计算1点坐标;
输入2点右平距即S 2的平均值,输入2点左平距即G2的平均值,计算2点坐标;
输入在点1测站测的1到2的平均值和1到G的平均值,进行校核;
校核误差是不可调误差,误差大于1毫米说明测量数据或计算输入数据有错,需检查原因。
2.一种平面控制测量不降等级的测算方法,其特征在于:由以下步骤组成:
(1)布点:
有已知G(A,B)和S(X,Y)两个点,从已知两点向欲测方向布点1和点2,这四点形成一组测量计算“环”,这四点彼此都要通视,且G1、12、2S、SG、G2、S1中最小长度不小于200米;
然后布3点和4点,同样1、2、3、4四点也形成一组测量计算“环”,对这一组点的要求与第一组点的要求完全相同;
以后的布点方法以此类推,布点的多少至满足施工需要为止;
(2)测量:对边测量法
在欲测组点范围以外距最近点大于100米的任一点通过脚架安置好全站仪,1、2、G、S四点都安好棱镜并使棱镜面对向置仪点,在对边测量模式下分别用正镜和倒镜测出SG、G1、12、2S、S1、G2的平距,算出正倒镜的平均值;
(3)计算、校核:采用卡西欧5800可编程计算器进行
假想计算者站在欲求点1或2,面对两已知点G、S的连线分左右,左侧已知点坐标用G (A,B)表示,右测已知点坐标用S (X,Y)表示;
输入G点的平面坐标(A,B),输入S点的平面坐标(X,Y);
输入S 1、G1、S G的平均值,计算1点坐标;
输入S 2、G2的平均值,计算2点坐标;
输入12的平均值,进行校核;
校核误差,误差大于1毫米说明测量数据或计算输入数据有错,需检查原因。
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