[发明专利]硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池工艺无效
申请号: | 201110030256.3 | 申请日: | 2011-01-28 |
公开(公告)号: | CN102157595A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 王应民;张婷婷;蔡莉;李清华;李禾;程泽秀 | 申请(专利权)人: | 南昌航空大学 |
主分类号: | H01L31/078 | 分类号: | H01L31/078;H01L31/18 |
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地址: | 330063 江*** | 国省代码: | 江西;36 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 铜铟镓硒双结 电池 工艺 | ||
1.硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池其特征在于:结合了硅薄膜和铜铟镓硒薄膜太阳电池特点,提高双结薄膜电池的光电转换效率。
2.如专利权利要求书1所述的硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池,该电池结构的特征在于:该双结薄膜电池分为上电池和下电池,上电池为铜铟镓硒薄膜电池,下电池为硅薄膜电池。
3.如专利权利要求书1,2所述的硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池,该电池的制备技术的特征在于:1)在导电玻璃等导电基体上沉积p-Si,再在p-Si衬底上沉积上n-Si形成p-n型硅薄膜下电池。2)使用磁控溅射或等离子体增强化学气相沉积技术沉积n+-ZnO薄膜,共蒸发或溅射后硒化技术沉积CuGaSe2和Cu(In,Ga)Se2等薄膜,磁控溅射或化学气相沉积技术沉积i-ZnO、ZnO:Al。制备硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池,通过制备条件的优化使其镀层的稳定性好、结合力强、分散均匀、与硅薄膜下电池的结合性佳等优点,最终使得该双结薄膜电池达到较高的光电转换效率。
4.如专利权利要求书2,3所述的硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池,可以通过改变硅薄膜和铜铟镓硒薄膜中各层的薄膜厚度和成分,可以得到一系列具有不同性能的硅薄膜/铜铟镓硒双结薄膜电池。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的