[发明专利]集成电路版图验证图形拓扑命令并发计算方法有效

专利信息
申请号: 201110030586.2 申请日: 2011-01-28
公开(公告)号: CN102622456A 公开(公告)日: 2012-08-01
发明(设计)人: 宋德强;马海南 申请(专利权)人: 北京华大九天软件有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100102 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 集成电路 版图 验证 图形 拓扑 命令 并发 计算方法
【权利要求书】:

1.一种集成电路版图验证并发图形拓扑命令计算方法,其技术特征在于包含以下几个步骤:①观测当前边,生成观测图形状态。②访问状态转移矩阵,根据观测状态和历史状态生成新状态。③边匹配器生成垂直边,并生成新状态。④调整斜边位置。根据斜率,向上或者下遍历邻近边。如果斜边与邻近边有交点,则更新状态,调整斜边位置。⑤以上步骤重复若干次,直到所有扫描线结束则停止。

2.根据权利要求1所述的方法,“观测状态”计算方法的特征在于:①提出了图形拓扑“状态转换矩阵”。②将图形拓扑状态转换总结为根据“历史状态”和“观测状态”查询“状态转移矩阵”而得新状态的过程。

3.根据权利要求1所述的计算方法,其特征在于:①并发图形拓扑命令计算方法以扫描线方法为基础。②并发图形拓扑命令计算方法同时执行6类命令,具有很高的执行效率。

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