[发明专利]集成电路版图验证图形拓扑命令并发计算方法

说明书

技术领域

本发明是一种使用于集成电路版图验证工具中的图形拓扑命令计算方法，所属的技术领域是集成电路计算机辅助设计领域，尤其是涉及集成电路版图的设计规则检查(DRC)和版图与原理图的一致性检查(LVS)领域。

背景技术

近30年来，集成电路技术一直按照“摩尔定律”向前发展。芯片的特征尺寸越来越小，单个芯片的集成度也越来越高。随着芯片规模的扩大，在集成电路设计的各个阶段所需验证的设计规则也在不断增多。其中集成电路版图的设计规则检查(DRC)以及集成电路版图与原理图的一致性检查(LVS)变得越来越重要，它们对于消除错误、降低设计成本和减少设计失败的风险具有重要作用。

扫描线方法最初是为解决线段相交问题而提出的。因为其高效率而在图形运算中得到广泛应用，是目前已知的最有效的版图运算方法。其基本思想为：

(1)扫描线停顿点为线段的左、右端点及线段间的交点。

(2)垂直扫描线从左向右运动，在每一个停顿点处停留。起始于当前扫描线的所有线段进入当前工作表，终止于当前扫描线的所有线段从工作表中删去，跨越当前扫描线的线段仍然保留。

(3)在当前扫描线状态下，活跃边都在当前链表中。

扫描线方法被广泛应用于线段求交和图形的逻辑、拓扑运算。在DRC中，图形拓扑命令是基础命令，它主要用于计算版图图形之间的各种关系。DRC图形拓扑命令主要包换以下6类命令：

(1)INSIDE。命令格式为INSIDE layer1 layer2。选择出所有位于layer2图层内部的layer1层图形。

(2)OUTSIDE。命令格式为OUTSIDE layer1 layer2。选择出所有的位于layer2图层外部的layer1层图形。

(3)ENCLOSE。命令格式为ENCLOSE layer1 layer2。选择出所有的包含了layer2层图形的layer1层图形。

(4)CUT。命令格式为CUT layer1 layer2。选择出与layer2层图形有部分面积重叠的layer1层图形。如果某一layer1层的图形是ENCLOSE结果，但不是INSIDE结果，那这个图形也是CUT的结果。

(5)TOUCH。命令格式为TOUCH layer1 layer2。选择出所有位于layer2层图形外部的，并且与layer2层图形有部分或者全部边重合的layer1层图形。

(6)INTERACT。命令格式为INTERACT layer1 layer2。INTERACT是INSIDE，ENCLOSE，CUT，TOUCH关系的合集。任一layer1图形，只要符合上述四种关系之一，那它就是INTERACT命令的结果。

以上6种命令的输出结果在附图1中有说明。

图形拓扑命令是DRC核心命令。它的执行时间直接影响版图验证工具的验证效率。本发明所要展示的是一种高效的基于扫描线方法的并发图形拓扑命令计算方法。

发明内容

本发明针对甚大规模集成电路版图验证工具中所面临的运行速度慢，运行时间长，导致版图验证最终不可解的问题，提出了一种并发的命令执行方法。此方法能够使六类图形拓扑命令并发执行，缩短命令执行时间，进而加快版图验证工具的运行速度，提高可验证版图规模。

本发明的主要技术方案包括以下五个步骤：

第一，观测当前边，生成观测图形状态。在当前扫描线上，首先将边按照KEY值(边与扫描线交点的Y坐标)与斜率排序。KEY值越小的边排序位置越靠下。相同KEY值的边，斜率越小的边，排序位置越靠下。如果KEY值和斜率相同，排序不分上下。边排好序后，从下到上，依次遍历当前扫描线上所有的边。

●如果当前边是layer1层的边。有以下三种判断状态：

(1)如果上一条已遍历的layer2层边为空，那当前边所在的layer1图形的观测状态是OUTSIDE。

(2)如果上一条已遍历的layer2层边非空，且该边为负向边。如果该边与当前边重合，返回TOUCH状态，否则当前边所在的layer1图形的观测状态是OUTSIDE。

(3)如果上一条已遍历的layer2层边非空，且该边为正向边。那当前边所在的layer1图形的观测状态是INSIDE。

●如果当前边是layer2层的边。有以下两种判断状态：

(1)如果上一条已遍历的layer1层边为空，没有layer1的图形有状态转换。