[发明专利]一种能够实现多进制加法计算的阻变器件及多进制加法计算的方法有效
申请号: | 201110032218.1 | 申请日: | 2011-01-28 |
公开(公告)号: | CN102623046A | 公开(公告)日: | 2012-08-01 |
发明(设计)人: | 康晋锋;张飞飞;高滨;陈冰;陈沅沙;刘力锋;刘晓彦;韩汝琦 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G11C11/56 | 分类号: | G11C11/56;H01L45/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 能够 实现 多进制 加法 计算 器件 方法 | ||
1.一种能够实现多进制加法计算的阻变器件,该阻变器件包括:
下电极,由一导电材料层构成;
阻变层,由淀积在所述下电极上的金属氧化物层构成,该金属氧化物层中注入有杂质元素;
上电极,由淀积在所述金属氧化物层上的导电材料层构成;
所述阻变器件具有从高阻态到低阻态的多个阻值,每个阻值对应于一存储值,所述高阻态对应的存储值为0,所述低阻态对应的存储值为该阻变器件的最高存储值;
其特征在于:
当所述阻变器件的阻值降低到一相邻阻值时,则该阻变器件的存储值加1;
当所述阻变器件的阻值降低到所述低阻态时,则该阻变器件的存储值置0,同时高位阻变器件的存储值+1,从而完成一次高位进位+1的运算。
2.根据权利要求1所述的阻变器件,其中,
当对所述阻变器件施加一次set脉冲电压时,该阻变器件的阻值降低到一相邻阻值,相应的该阻变器件的存储值+1;
当对所述阻变器件施加一reset脉冲电压时,该阻变器件的阻值升高到某一阻值,相应的该阻变器件的存储值降低到该阻值对应的存储值。
3.根据权利要求2所述的阻变器件,其中,
当连续施加具有相同脉冲宽度和相同电压幅值的所述set脉冲电压时,所述阻变器件的阻值逐渐降低;
当施加具有相同脉冲宽度和不同电压幅值的reset脉冲电压时,所述阻变器件的阻值升高到与所述电压幅值对应的阻值。
4.根据权利要求1所述的阻变器件,通过施加一具有特定电压幅值的reset脉冲电压使所述阻变器件的阻值升高到高阻态,从而使该阻变器件的存储值置0。
5.根据权利要求1所述的阻变器件,通过对所述高位阻变器件施加一次set脉冲电压使其阻值降低到一相邻阻值,实现该高位阻变器件的存储值+1。
6.根据权利要求2-5中任一项所述的阻变器件,所述set脉冲电压是正向脉冲,所述reset脉冲电压是反向脉冲。
7.根据权利要求1所述的阻变器件,所述导电材料层是多晶硅层、铂金属层或氮化钛层。
8.根据权利要求1所述的阻变器件,所述金属氧化物层是过渡金属氧化物层。
9.根据权利要求1所述的阻变器件,所述杂质元素是三价的金属。
10.根据权利要求1-5、7-9中任一项所述的阻变器件,所述阻变器件包括单极阻变存储器和双极阻变存储器。
11.一种利用阻变器件实现多进制加法计算的方法,所述阻变器件具有从高阻态到低阻态的多个阻值,每个阻值对应于一存储值,所述高阻态对应的存储值为0,所述低阻态对应的存储值为该阻变器件的最高存储值,所述方法包括如下步骤:
对所述阻变器件初始化,使其存储值为加数;
判断被加数是否为0;
如果被加数为0,则输出所述阻变器件的当前存储值作为计算结果;
如果被加数不为0,则判断所述阻变器件的当前存储值是否为该阻变器件的最高存储值;
如果所述阻变器件的当前存储值是其最高存储值,则对该阻变器件的存储值置0,同时使高位阻变器件的存储值+1,从而完成一次高位进位+1的运算;
如果所述阻变器件的当前存储值不是其最高存储值,则使该阻变器件的存储值+1,即实现加数+1的操作;
使被加数减1,返回前述判断被加数是否为0的步骤,继续下一个+1的操作。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,
当对所述阻变器件施加一次set脉冲电压时,该阻变器件的阻值降低到一相邻阻值,相应的该阻变器件的存储值+1;
当对所述阻变器件施加一reset脉冲电压时,该阻变器件的阻值升高到某一阻值,相应的该阻变器件的存储值降低到该阻值对应的存储值。
13.根据权利要求12所述的方法,其中,
当连续施加具有相同脉冲宽度和相同电压幅值的所述set脉冲电压时,所述阻变器件的阻值逐渐降低;
当施加具有相同脉冲宽度和不同电压幅值的reset脉冲电压时,阻变器件的阻值升高到与所述电压幅值对应的阻值。
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