[发明专利]用于测试微间距阵列的探针单元有效
| 申请号： | 201110033221.5 | 申请日： | 2011-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN102136234A | 公开（公告）日： | 2011-07-27 |
| 发明（设计）人： | 金宪敏 | 申请（专利权）人： | 寇地斯股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G01R1/073 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张欣 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测试 间距 阵列 探针 单元 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测试微间距阵列的探针单元，包括：
包括绝缘膜和在所述绝缘膜上形成的引线图案的探针片，其中所述图案化引线的特定部分构成与测试目标接触的触点，所述触点在两行或多个行中形成；
紧固所述探针片的体块；以及
设置至所述体块的按压构件，用于向所述测试目标按压所述触点以使各行触点可分别由所述按压构件来按压。
2.如权利要求1所述的探针单元，其特征在于，所述按压构件可形成有在其下表面上的横向凹槽，以使各行触点可分别由所述按压构件来按压。
3.如权利要求2所述的探针单元，其特征在于，所述按压构件弹性地按压所述触点。
4.如权利要求3所述的探针单元，其特征在于，所述按压构件由非金属材料形成。
5.如权利要求1所述的探针单元，其特征在于，所述触点从所述图案化引线凸出。
6.如权利要求1所述的探针单元，其特征在于，所述各行触点交替地形成。
7.如权利要求1所述的探针单元，其特征在于，所述探针片还包括用于驱动所述测试目标的驱动电路芯片。
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