[发明专利]用于测试微间距阵列的探针单元

说明书

技术领域

本发明涉及用于测试微间距阵列的探针单元，尤其涉及用于测试微间距阵列的探针单元，该探针单元在探针片具有两行或更多行触点时使各行触点能与测试目标稳定地接触。

背景技术

诸如液晶显示器(LCD)面板、有机发光二极管(OLED)等的平板显示器件通过复杂的工艺来制造。在这些制造工艺之间执行测试过程。下文中，将描述LCD面板的测试过程作为示例。

图1示出通用LCD面板1的单元结构。如图所示，该LCD面板1设置有薄膜晶体管(TFT)衬底12和滤色片衬底14。TFT衬底12具有沿着其边缘放置的驱动电路芯片，该驱动电路芯片用于驱动LCD面板或者形成为具有垫片18，其中带式自动接合集成电路(TAB IC)连接到该垫片18。

在将TAB IC等连接到垫片18之前电测试LCD面板1时，使用探针单元。常规探针单元通过与平头电极接触的针或者刀片向LCD面板施加驱动信号。

但是因为难以按照特定间距制造和排列针或刀片，因此最近提出了膜型探针单元。

将参考图2和3来描述常规膜型探针单元100。如图所示，在体块110的底部上设置探针片和柔性印刷电路(FPC)。该探针片具有在绝缘膜上形成的引线的图案、以及用于驱动装载在探针片上且连接到图案化引线的LCD面板的驱动电路芯片。

图案化引线132的特定部分构成将与在测试目标1的垫片上形成的平头电极18a、18b接触的触点。在图3中，图案化引线132的尖端构成触点133a、133b，其将与平头电极18a、18b接触。

此外，体块110设置有用于将触点133a、133b压向LCD面板1的按压构件120。

参考图4至图6，触点133a、133还可交替地分两行形成以用于测试微间距阵列。具体而言，触点133a、133b包括第一行触点133a和第二行触点133b，其将分别与第二行平头电极18b和第一行平头电极18a接触。因此，按压构件120在其下表面处形成有按压区域M0，其挤压第一行触点133a和第二行触点133b两者。

但是在这种常规探针单元100中，所有触点不需要同步与平头电极接触。举例而言，如图6所示，第一行触点133a与第二行平头电极18b接触，但是第二行触点133b不与第一行平头电极18a接触。

发明内容

本发明被设计成解决以上问题，且本发明的一个方面提供一种用于测试微间距阵列的探针单元，该探针单元在探针片有两行或更多行触点时使各行触点能与测试目标稳定地接触。

根据本发明的一个方面，用于测试微间距阵列的探针单元包括：包括绝缘膜和在绝缘膜上形成的引线的图案的探针片，其中图案化引线的特定部分构成与测试目标接触的触点和在两行或更多行中形成的触点；用于紧固探针片的体块；以及设置至体块的按压构件，用于向测试目标按压触点以使各行触点可分别由按压构件来按压。

按压构件可形成有其下表面上的横向凹槽，以使各行触点可分别由按压构件来按压。

该按压构件可弹性地按压触点。

该按压构件可由非金属材料形成。

该触点可从图案化引线凸出。

触点的各个行可交替形成。

该探针片可进一步包括用于驱动测试目标的驱动电路芯片。

附图简述

根据结合附图给出的示例性实施例的以下描述，本发明的以上和其它方面、特征以及优点将变得显而易见，在附图中：

图1示出通用LCD面板；

图2和3示出常规膜型探针单元；

图4至6示出常规探针单元的使用；

图7示出探针单元；以及

图8和9示出图7所示探针单元的使用。

具体实施方式

现在将参考附图对发明的示例性实施例进行描述。

参考图7和图8，用于测试微间距阵列的探针单元200包括体块210、探针片230、柔性印刷电路240以及按压构件220。

在该实施例中，探针片230具有要附连到测试目标成品的带式自动接合集成电路(TAB IC)。具体而言，该探针单元230包括绝缘膜221和在绝缘膜221上形成的引线图案，其中图案化引线的尖端构成要与测试目标的垫片接触的触点233a、233b。触点233a、233b可从图案化引线向LCD面板凸出(参见图7)。即，可在图案化引线上形成凸点以便于与平头电极18a、18b接触(参见图6)。

此外，对应于微间距阵列，探针片230的触点233a、233b交替分两行形成(参加图8)。