[发明专利]显示装置和电子设备

权利要求书

1.一种显示装置，包括：

配置为对于每一个像素形成的开关元件；

配置为连接到开关元件的栅极线；以及

配置为连接到栅极线的扫描线驱动电路，其中

所述扫描线驱动电路包括多个级的扫描线驱动电路单元，

所述扫描线驱动电路单元包括第一晶体管和第二晶体管，第一晶体管的源极和漏极之一连接到所述栅极线，在前一级提供的扫描线驱动电路单元的输出信号被输入到第二晶体管的源极和漏极之一，第二晶体管的源极和漏极中的另一个连接到第一晶体管的栅极，并且

通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从15％到30％的范围内。

2.如权利要求1所述的显示装置，其中

通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从20％到25％的范围内。

3.如权利要求1所述的显示装置，其中

所述扫描线驱动电路单元还包括连接至第一晶体管的栅极以及第二晶体管的源极和漏极中的另一个的第三晶体管，并且

通过将第三晶体管的沟道宽度除以第三晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值小于通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值，并且在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从2.5％到6％的范围内。

4.如权利要求1所述的显示装置，其中

所述扫描线驱动电路单元还包括连接至第一晶体管的栅极以及第二晶体管的源极和漏极中的另一个的多个第三晶体管，并且

通过将第三晶体管中的每一个晶体管的沟道宽度除以第三晶体管中的该每一个晶体管的沟道长度获得的多个第三晶体管中的每一个的尺寸比的量值小于通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值，并且在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从2.5％到6％的范围内。

5.如权利要求3所述的显示装置，其中

通过将第三晶体管的沟道宽度除以第三晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从3.0％到5.0％的范围内。

6.如权利要求1所述的显示装置，其中

在前一级提供的扫描线驱动电路单元的输出信号被输入到第二晶体管的源极和漏极之一以及第二晶体管的栅极。

7.如权利要求1所述的显示装置，其中

第一晶体管和第二晶体管具有由非晶硅形成的活性层。

8.一种包括显示装置的电子设备，所述显示装置包括：

配置为对于每一个像素形成的开关元件；

配置为连接到开关元件的栅极线；以及

配置为连接到栅极线的扫描线驱动电路，其中

所述扫描线驱动电路包括多个级的扫描线驱动电路单元，

所述扫描线驱动电路单元包括第一晶体管和第二晶体管，第一晶体管的源极和漏极之一连接到所述栅极线，在前一级提供的扫描线驱动电路单元的输出信号被输入到第二晶体管的源极和漏极之一，第二晶体管的源极和漏极中的另一个连接到第一晶体管的栅极，并且

通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从15％到30％的范围内。