[发明专利]显示装置和电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置和电子设备，具体涉及具有包含多个晶体管的扫描线驱动电路单元的显示装置和电子设备。

背景技术

作为相关技术，已知具有包含多个晶体管的扫描线驱动电路单元的显示装置和电子设备(参见例如日本专利特开No.Hei 7-182891和日本专利特开No.2006-24350(下文中，称为专利文件1和2))。

专利文件1和2公开了具有包括第一晶体管和第二晶体管的级(stage)(扫描线驱动电路单元)的显示装置。在该级中，前一级的输出信号输入到第一晶体管的源极和漏极之一以及第一晶体管的栅极。另外，第一晶体管的源极和漏极中的另一个连接到第二晶体管的栅极，并且第二晶体管从其源极和漏极之一输出信号到栅极线。在该级中，H-电平信号从前一级输入到第一晶体管的栅极，由此第一晶体管进入导通状态，从而前一级的H-电平信号输入到第二晶体管的栅极。这使得第二晶体管进入导通状态，从而连接到第二晶体管的源极和漏极中的另一个的时钟信号(H-电平信号)被输出到输出端。

发明内容

然而，关于在专利文件1和2中描述的显示装置中的扫描线驱动电路单元的操作性能，还没有关于通过将第一晶体管和第二晶体管的沟道宽度W除以其沟道长度L而获得的尺寸比(W/L)的量值的研究。

本发明需要提供一种能够通过调节晶体管的尺寸比来增强扫描线驱动电路单元的操作性能的显示装置和电子设备。

根据本发明的第一模式，提供一种显示装置，包括：配置为对于每一个像素形成的开关元件，配置为连接到开关元件的栅极线，以及配置为连接到栅极线的扫描线驱动电路。扫描线驱动电路包括多个级的扫描线驱动电路单元。扫描线驱动电路单元包括第一晶体管和第二晶体管。第一晶体管的源极和漏极之一连接到栅极线。在前一级提供的扫描线驱动电路单元的输出信号被输入到第二晶体管的源极和漏极之一。第二晶体管的源极和漏极中的另一个连接到第一晶体管的栅极。通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从15％到30％的范围内。

在根据该第一模式的显示装置中，如上所述，通过将第二晶体管的沟道宽度除以其沟道长度而获得的尺寸比的量值被设定在通过将第一晶体管的沟道宽度除以其沟道长度而获得的尺寸比的量值的从15％到30％的范围内。由此，对于与第二晶体管的尺寸比的量值小于第一晶体管的尺寸比的量值的15％的情形相比较的示例，从第二晶体管的源极和漏极中的另一个输出的信号的量值可以随第二晶体管的尺寸比的量值越大而相关联地增大。从而，在第二晶体管的源极和漏极中的另一个与第一晶体管的栅极之间的寄生电容器的充电/放电所需的时间可以被缩短。由于这一特征，可以通过调节晶体管的尺寸比来增强扫描线驱动电路单元的操作性能。已经通过后面要描述的模拟的结果验证了可以通过调节晶体管的尺寸比来增强扫描线驱动电路单元的操作性能的效果。

在根据上述第一模式的显示装置中，优选的是通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从20％到25％的范围内。如果应用这一配置，则可以进一步增强扫描线驱动电路单元的操作性能。

在根据上述第一模式的显示装置中，优选的是扫描线驱动电路单元还包括连接至第一晶体管的栅极以及第二晶体管的源极和漏极中的另一个的第三晶体管，并且通过将第三晶体管的沟道宽度除以第三晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值小于通过将第二晶体管的沟道宽度除以第二晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值，并且在通过将第一晶体管的沟道宽度除以第一晶体管的沟道长度而获得的尺寸比的量值的从2.5％到6％的范围内。如果应用这一配置，则对于与第三晶体管的尺寸比的量值大于第一晶体管的尺寸比的量值的6％的情形相比较的示例，第三晶体管的寄生电容器的充电/放电所需的时间可以随第三晶体管的尺寸比的量值越小而相关联地缩短。从而，可以增强扫描线驱动电路单元的操作性能。