[发明专利]光电元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201110034959.3 申请日: 2011-02-09
公开(公告)号: CN102148301A 公开(公告)日: 2011-08-10
发明(设计)人: 陈世益;许嘉良;徐子杰;吴俊毅;黄建富 申请(专利权)人: 晶元光电股份有限公司
主分类号: H01L33/14 分类号: H01L33/14;H01L33/22;H01L33/02;H01L33/38;H01L33/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 彭久云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 光电 元件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种光电半导体元件,包括:

基板;

第一窗口层,形成于该基板,具有第一片电阻值、第一厚度及第一杂质浓度;

第二窗口层,具有第二片电阻值、第二厚度及第二杂质浓度;

半导体系统,形成于该第一窗口层及该第二窗口层之间;

其中该第二窗口层和该半导体系统包括不同的半导体材料;该第二片电阻值低于该第一片电阻值;该第二厚度大于该第一厚度。

2.如权利要求1所述的光电半导体元件,其中该半导体系统包括:具有第一导电型态的第一半导体层、具有第二导电型态的第二半导体层和形成于该第一半导体层和第二半导体层之间的转换单元,其中该第二窗口层和该半导体系统具有一个宽度差,该第二窗口层的宽度小于该半导体系统的宽度,该宽度差大于1微米。

3.如权利要求1所述的光电半导体元件,其中该第二窗口层的上表面及侧壁具有不平整的结构。

4.如权利要求1所述的光电半导体元件,还进一步包括形成于基板和第一窗口层之间的透明导电层。

5.如权利要求4所述的光电半导体元件,还进一步包括形成于该基板和该透明导电层之间的金属反射层。

6.一种光电半导体元件,包括:

基板;

金属层,包括金属元素,形成于该基板上;

第一窗口层,包括该金属元素;

透明导电层,形成于该金属层和该第一窗口层之间,其中于该第一窗口层的该金属元素的浓度小于1*1019cm-3,大于1*1016cm-3

7.如权利要求6所述的光电半导体元件,还进一步包括形成于该第一窗口层上的半导体系统;

该半导体系统由第一导电型态的第一半导体层、第二导电型态的第二半导体层及形成于该第一半导体层和该第二半导体层之间的转换单元所构成。

8.如权利要求6所述的光电半导体元件,其中该金属元素包括银。

9.如权利要求6所述的光电半导体元件,其中该金属层反射率超过90%。

10.如权利要求6所述的光电半导体元件,还进一步包括形成于该半导体系统上的第二窗口层,该第二窗口层具有不平整的结构,该第一窗口层和该半导体系统具有一个宽度差,该第一窗口层的宽度小于该半导体系统的宽度,该宽度差大于1微米。

11.一种光电半导体元件,包括:

基板;

n型窗口层,形成于该基板上;

半导体系统,形成于该n型窗口层上;

p型窗口层,形成于该半导体系统上;

其中,该光电半导体元件可发出琥珀色光和红光,并在驱动电流密度介于0.1~0.32mA/mil2,具有70流明/瓦的发光效率。

12.一种制造光电半导体元件的方法,包括以下步骤:

提供基板;

形成半导体系统于该基板上;

形成窗口层在该半导体系统上;其中该窗口层和该半导体层包括不同的半导体材料;

移除部分的该窗口层,由此使该窗口层和该半导体层具有宽度差,该宽度差大于1微米。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于晶元光电股份有限公司,未经晶元光电股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110034959.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top