[发明专利]检测系统及检测方法

权利要求书

1.一种检测系统，适于检测发光元件的晶粒品质，包括：

电压施加装置，电性连接所述发光元件并施加电压于所述发光元件；

电流检测装置，电性连接所述发光元件并测量所述发光元件受所述电压施加装置施加所述电压时所产生的电流；

加热装置，用以将所述发光元件由第一温度加热至第二温度，其中当所述发光元件处于所述第一温度时，所述电流检测装置所测量到所述发光元件受所述电压施加装置施加所述电压时所产生的所述电流定义为第一电流，而当所述发光元件处于所述第二温度时，所述电流检测装置所测量到所述发光元件受所述电压施加装置施加所述电压时所产生的所述电流定义为第二电流；以及

控制单元，电性连接所述电压施加装置与所述电流检测装置并记录所述第一电流与所述第二电流，其中当所述第二电流与所述第一电流的差值大于电流失效判定值时，所述控制单元判断所述发光元件为失效元件。

2.如权利要求1所述的检测系统，其中所述电流失效判定值随所述第二温度升高而增加。

3.如权利要求1所述的检测系统，其中所述第二温度落在摄氏70度～摄氏400度的范围内。

4.如权利要求3所述的检测系统，其中所述第二温度落在摄氏100度～摄氏300度的范围内。

5.如权利要求1所述的检测系统，其中所述加热装置包括烤箱、激光装置、微波装置及加热平台。

6.如权利要求5所述的检测系统，其中所述加热装置为所述激光装置时，所述激光装置用于提供激光光束于所述发光元件，以使所述发光元件由所述第一温度加热至所述第二温度。

7.如权利要求6所述的检测系统，其中所述激光光束的波长范围大于或等于所述至少发光元件的主要发光波长。

8.如权利要求1所述的检测系统，其中所述电压包括顺向电压与逆向电压至少其一。

9.如权利要求8所述的检测系统，其中所述电压为所述顺向电压时，所述顺向电压的范围落在电压与电流未偏离线性关系之前。

10.如权利要求8所述的检测系统，其中所述电压为所述逆向电压时，所述逆向电压的范围小于所述发光元件的崩溃电压。

11.如权利要求1所述的检测系统，其中所述电压为脉冲电压或直流电压，且所述电压施加装置施加所述电压于所述至少一发光元件的时间区间定义为电压持续时间。

12.如权利要求11所述的检测系统，其中所述电压持续时间介于10μs至50μs之间。

13.如权利要求11所述的检测系统，其中所述电流检测装置在所述电压持续时间内测量所述发光元件的所述电流定义为电流测量时间，且所述电流测量时间小于或等于所述电压持续时间。

14.一种检测方法，用于检测发光元件的晶粒品质，包括：

在第一温度下，施加电压于所述至少一发光元件；

在所述第一温度下，测量当施加电压于所述至少一发光元件时所产生的第一电流；

加热所述至少一发光元件，以使所述至少一发光元件由所述第一温度加热至第二温度；

在所述第二温度下，施加所述电压于所述发光元件；

在所述第二温度下，测量当施加电压于所述发光元件时所产生的第二电流；以及

判断所述第二电流与所述第一电流的差值是否大于电流失效判定值，其中若所述第二电流与所述第一电流的差值大于所述电流失效判定值，所述发光元件被判断为失效元件。

15.如权利要求14所述的检测方法，其中所述电流失效判定值随所述第二温度升高而增加。

16.如权利要求14所述的检测方法，其中加热所述发光元件的方法包括使用烤箱进行加热、激光装置进行加热、微波装置进行加热、加热平台进行加热或电流加热。

17.如权利要求16所述的检测方法，其中利用所述烤箱对所述发光元件进行加热的方法包括使用热空气对流或高温灯泡，以使所述发光元件由所述第一温度加热至所述第二温度。

18.如权利要求16所述的检测方法，其中利用所述激光装置对所述发光元件进行加热的方法包括提供激光光束于所述至少发光元件，以使所述发光元件由所述第一温度加热至所述第二温度。