[发明专利]检测系统及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测系统及检测方法，且特别涉及一种检测发光元件的晶粒品质的检测系统及检测方法。

背景技术

发光二极管品质及寿命试验方法近年来成为国际积极讨论的议题，其中北美照明工程协会于2008年9月完成一份发光二极管光源流明维持率测量方法(Measuring Lumen Maintenance of发光二极管Light SourcesLM-80-08)，针对发光二极管元件、阵列与模块的寿命试验方法提出一套规范。

依据规范内容发光二极管寿命试验需耗费相当多的资源与时间，因此厂商通常以基本的出厂规格进行品管验证与短期老化试验进行早衰样品的筛选。但目前在发光二极管元件出厂前并无快速的检测方式去缩短甚至省略短期老化试验的步骤与时间，造成生产流程与成本上的增加，因此若能提供一套线上快速检测机制与方法，设计建构高效率的测量平台，对国内发光二极管品质与可靠度提升产生重大产业效益。

发明内容

本发明提供一种检测系统，其可快速地检测发光元件的晶粒品质。

本发明另提出一种检测方法，其用于上述的检测系统而同样具有上述的优点。

本发明提出一种检测系统，适于检测至少一发光元件的晶粒品质。检测系统包括一电压施加装置、一电流检测装置、一加热装置以及一控制单元。电压施加装置电性连接至少一发光元件并施加一电压于至少一发光元件。电流检测装置电性连接至少一发光元件并测量至少一发光元件受电压施加装置施加电压时所产生的一电流。加热装置用以将至少一发光元件由一第一温度加热至一第二温度。当至少一发光元件处于第一温度时，电流检测装置所测量到至少一发光元件受电压施加装置施加电压时所产生的电流定义为一第一电流。当至少一发光元件处于第二温度时，电流检测装置所测量到至少一发光元件受电压施加装置施加电压时所产生的电流定义为一第二电流。控制单元电性连接电压施加装置与电流检测装置并记录第一电流与第二电流。当第二电流与第一电流的差值大于一电流失效判定值时，控制单元判断至少一发光元件为一失效元件。

本发明另提出一种检测方法，适于检测至少一发光元件的晶粒品质。此检测方法至少包括下列步骤。首先，在一第一温度下，施加一电压于至少一发光元件。接着，在第一温度下，测量当施加电压于至少一发光元件时所产生的一第一电流。然后，加热至少一发光元件，以使至少一发光元件由第一温度加热至一第二温度。接着，在第二温度下，施加电压于至少一发光元件。而后，在第二温度下，测量当施加电压于至少一发光元件时所产生的一第二电流。接着，判断第二电流与第一电流的差值是否大于一电流失效判定值，其中若第二电流与第一电流的差值大于电流失效判定值，至少一发光元件被判断为一失效元件。

本发明又提出一种检测系统，其适于检测至少一发光元件的晶粒品质。此检测系统包括一电流施加装置、一电压检测装置、一加热装置以及一控制单元。电流施加装置电性连接至少一发光元件并分别于不同时间内施加一顺向电流与一逆向电流于至少一发光元件。电压检测装置电性连接至少一发光元件，并分别测量至少一发光元件受电流施加装置施加顺向电流与逆向电流时所分别对应产生的一顺向电压与一逆向电压。加热装置用以将至少一发光元件由一第一温度加热至一第二温度。当至少一发光元件处于第一温度时，电压检测装置测量至少一发光元件受电流施加装置施加顺向电流与逆向电流时所分别产生的一第一顺向电压与一第一逆向电压，且第一顺向电压与第一逆向电压的压差定义为一第一电压差。当至少一发光元件处于第二温度时，电压检测装置测量至少一发光元件受电流施加装置施加顺向电流与逆向电流时所分别对应产生的一第二顺向电压与一第一逆向电压，且第二顺向电压与第二逆向电压的压差定义为一第二电压差。控制单元电性连接电流施加装置与电压检测装置并记录第一电压差与第二电压差，其中当第二电压差与第一电压差的差值大于一电压失效判定值时，控制单元判断至少一发光元件为一失效元件。