[发明专利]光耦合接收元件的检测系统及其方法无效
申请号: | 201110042172.1 | 申请日: | 2011-02-22 |
公开(公告)号: | CN102645611A | 公开(公告)日: | 2012-08-22 |
发明(设计)人: | 陈赐鸿 | 申请(专利权)人: | 长裕欣业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/04 | 分类号: | G01R31/04 |
代理公司: | 北京汇智英财专利代理事务所 11301 | 代理人: | 潘光兴 |
地址: | 中国台湾新北*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 耦合 接收 元件 检测 系统 及其 方法 | ||
1.一种光耦合接收元件的检测系统,其特征在于包括:
一个检测源产生模块,于运作时,产生一个检测源;
一个检测源传递模块,与该检测源为模块链接,以将该检测源传递至一个待测元件上;
一个量测模块,常态下,量测该待测元件运作后,产生一个电性参数;以及
一个频率检测模块,与该量测模块链接,接收该量测模块所传递的该电性参数,以进行该电性参数的比对。
2.根据权利要求1所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该检测源为一个电压源。
3.根据权利要求1所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该检测源为一个光信号。
4.根据权利要求1所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该检测源传递模块为一个光耦合发送元件。
5.根据权利要求1所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该电性参数为一个波形。
6.根据权利要求1所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该频率检测模块为一个计频装置。
7.一种光耦合接收元件的检测系统的实施方法,其特征在于包括:
一个待测元件处于不稳定的工作状态的步骤,移除一个待测元件所接设的一个旁路电路,该待测元件处于不稳定的工作状态,进而形同一个震荡电路;
一个驱使待测元件产生运作的步骤,一个检测源产生模块产生一个检测源,而该检测源经由一个检测源传递模块传递至该待测元件,该待测元件接收到该检测源产生运作,并产生震荡;
一个量测输出端的电性参数的步骤,一个量测模块与该待测元件的一个输出端链接,量测该待测元件运作后所产生的一个电性参数;以及
一个判定待测元件是否产生瑕疵的步骤,该量测模块将该电性参数,传递至一个频率检测模块,该频率检测模块进行电性参数的比较,判定该待测元件是否产生断线的瑕疵。
8.根据权利要求7所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该判定待测元件是否产生瑕疵的步骤,是借助一个构建于运算模块内部的检测机制进行检测。
9.一种光耦合接收元件的检测系统的实施方法,其特征在于包括:
一个待测元件处于不稳定的工作状态的步骤,移除一个待测元件所接设的一个旁路电路,该待测元件处于不稳定的工作状态,形同一个震荡电路;
一个产生检测用的光检测源的步骤,一个检测源产生模块,产生一个能做为检测源的光信号;
一个驱使待测元件产生运作的步骤,该检测源经由一个检测源传递模块,传递至该待测元件的一个光接收部,而该检测源传递模块除传递该检测源外,更供给电能驱使该待测元件产生运作,而该待测元件因持续性的接收该检测源,开始产生震荡;
一个量测输出端的电性参数的步骤,一个量测模块与该待测元件的一个输出端链接,并量测出该待测元件震荡后,所产生的电性参数;以及
一个判定待测元件是否产生瑕疵的步骤,该量测模块将该电性参数,传递至一个频率检测模块,该频率检测模块进行电性参数的比较,判定该待测元件是否产生断线的瑕疵。
10.根据权利要求9所述的光耦合接收元件的检测系统,其特征在于:该判定待测元件是否产生瑕疵的步骤是借助一个构建于运算模块内部的检测机制进行检测。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长裕欣业股份有限公司,未经长裕欣业股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110042172.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:双重化控制装置
- 下一篇:一种细纱锭子杆盘锁紧装置