[发明专利]数控机床加工轨迹控制方法有效
申请号: | 201110049144.2 | 申请日: | 2011-03-01 |
公开(公告)号: | CN102156439A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 方敏;吴典;焦逸 | 申请(专利权)人: | 上海维宏电子科技有限公司;上海奈凯电子科技有限公司 |
主分类号: | G05B19/19 | 分类号: | G05B19/19 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁;郑暄 |
地址: | 201108 上海市闵行区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 数控机床 加工 轨迹 控制 方法 | ||
1.一种数控机床加工轨迹控制方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:
(1)根据加工计划确定需要进行平滑处理的位置数N;
(2)初始化N个位移量存储单元,将各位移量存储单元编号为0至N-1,并指定当次位移量存储单元的编号;
(3)根据加工计划计算当次运动计划位移量;
(4)将所述的当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元;
(5)将N个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量;
(6)重新设定当次位移量存储单元的编号;
(7)判断加工计划是否执行完毕,若是,则进入步骤(8),若否,则返回步骤(3);
(8)判断是否存在残留位移,若是,则进入步骤(9),若否,则进入步骤(10);
(9)将当次运动的位移量设定为0,并返回步骤(4);
(10)结束本方法。
2.根据权利要求1所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的加工计划为加工路径文件,所述的步骤(7)中判断加工计划是否执行完毕,具体是指:
加工路径文件是否结束。
3.根据权利要求2所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的需要进行平滑处理的位置数N为加工路径文件的精度所对应的脉冲个数的一半。
4.根据权利要求1所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的步骤(6)具体是指:
设定当次位移量存储单元编号加1,若加1后为N,则将当次位移量存储单元编号设定为0。
5.根据权利要求1所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的步骤(8)中判断是否存在残留位移,具体是指:
将各位移量存储单元中的数据与初始值比较,判断是否存在残留位移,若各位移量存储单元均为0,则不存在残留位移,反之,则存在残留位移。
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