[发明专利]数控机床加工轨迹控制方法有效

专利信息
申请号: 201110049144.2 申请日: 2011-03-01
公开(公告)号: CN102156439A 公开(公告)日: 2011-08-17
发明(设计)人: 方敏;吴典;焦逸 申请(专利权)人: 上海维宏电子科技有限公司;上海奈凯电子科技有限公司
主分类号: G05B19/19 分类号: G05B19/19
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁;郑暄
地址: 201108 上海市闵行区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 数控机床 加工 轨迹 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种数控机床加工轨迹控制方法,其特征在于,所述的方法包括以下步骤:

(1)根据加工计划确定需要进行平滑处理的位置数N;

(2)初始化N个位移量存储单元,将各位移量存储单元编号为0至N-1,并指定当次位移量存储单元的编号;

(3)根据加工计划计算当次运动计划位移量;

(4)将所述的当次运动计划位移量存入当次位移量存储单元;

(5)将N个位移量存储单元的平均值作为当次运动实际位移量;

(6)重新设定当次位移量存储单元的编号;

(7)判断加工计划是否执行完毕,若是,则进入步骤(8),若否,则返回步骤(3);

(8)判断是否存在残留位移,若是,则进入步骤(9),若否,则进入步骤(10);

(9)将当次运动的位移量设定为0,并返回步骤(4);

(10)结束本方法。

2.根据权利要求1所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的加工计划为加工路径文件,所述的步骤(7)中判断加工计划是否执行完毕,具体是指:

加工路径文件是否结束。

3.根据权利要求2所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的需要进行平滑处理的位置数N为加工路径文件的精度所对应的脉冲个数的一半。

4.根据权利要求1所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的步骤(6)具体是指:

设定当次位移量存储单元编号加1,若加1后为N,则将当次位移量存储单元编号设定为0。

5.根据权利要求1所述的数控机床加工件控制方法,其特征在于,所述的步骤(8)中判断是否存在残留位移,具体是指:

将各位移量存储单元中的数据与初始值比较,判断是否存在残留位移,若各位移量存储单元均为0,则不存在残留位移,反之,则存在残留位移。

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