[发明专利]一种可铜线键接的封装体结构及其制作方法有效
申请号: | 201110050405.2 | 申请日: | 2011-02-24 |
公开(公告)号: | CN102651360A | 公开(公告)日: | 2012-08-29 |
发明(设计)人: | 薛彦迅;鲁军;安荷·叭剌 | 申请(专利权)人: | 万国半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/495 | 分类号: | H01L23/495;H01L23/31;H01L21/60;H01L21/56 |
代理公司: | 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 | 代理人: | 张静洁;徐雯琼 |
地址: | 美国加利福尼亚940*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铜线 封装 结构 及其 制作方法 | ||
1.一种可铜线键接的封装体结构,其特征在于,包含:
引线框架(10),其设置有若干载片台,和延伸至所述封装体结构外的若干引脚,以及
若干加强筋(20),其连接相邻的所述载片台;每对相邻载片台之间连接有至少一个所述加强筋(20);
若干半导体芯片,对应设置在所述若干载片台上;
在所述芯片之间,或所述芯片与所述引脚之间,或所述芯片与所述载片台之间,通过铜线(50)键接形成电气连接。
2.如权利要求1所述可铜线键接的封装体结构,其特征在于,还包含塑封体(60),使所述若干载片台及其承载的所述若干芯片封装在所述塑封体(60)内部,并覆盖至所述加强筋(20)的顶面;所述载片台的未连接芯片的底面,以及所述若干引脚暴露在所述塑封体(60)的底面外。
3.如权利要求2所述可铜线键接的封装体结构,其特征在于,所述加强筋(20)在所述塑封体(60)封装后去除,使相邻的所述载片台相互电气隔绝。
4.如权利要求1或3所述可铜线键接的封装体结构,其特征在于,所述加强筋(20),其高度低于其连接的所述相邻载片台的高度;所述加强筋(20)底面与所述载片台底面在同一平面上。
5.如权利要求1所述可铜线键接的封装体结构,其特征在于,所述引线框架(10)上的其中一些所述引脚,由所述若干载片台引出;所述芯片的底面与所述载片台的顶面固定连接,使所述芯片设置的若干底部电极,与所述载片台电性连接,并通过该些引脚与外部元器件连接。
6.如权利要求5所述可铜线键接的封装体结构,其特征在于,所述引线框架(10)上的另一些所述引脚,与所述若干载片台分隔且无电性连接;所述芯片设置的若干顶部电极,与该些引脚通过铜线(50)键接形成电性连接,并通过该些引脚与外部元器件连接。
7.一种可铜线键接的封装体结构的制作方法,其特征在于,包含以下步骤:
步骤1、形成引线框架(10)上连接相邻载片台的若干加强筋(20);相邻载片台之间形成有至少一个所述加强筋(20);
步骤2、半导体芯片对应连接在载片台上;芯片之间,或芯片与引脚之间,或芯片与载片台之间通过铜线(50)键接形成电性连接;
步骤3、封装带芯片及键接铜线(50)的引线框架(10);
塑封封装材料覆盖在芯片、载片台的顶部,以及所述加强筋(20)的顶面上,并固化形成塑封体(60);使载片台的底面、加强筋(20)底面和若干引脚暴露在所述塑封体(60)外;
步骤4、从封装体结构的底面,切割去除所述加强筋(20),在相邻载片台之间形成间隔空隙,实现相邻载片台的电气隔离。
8.如权利要求7所述可铜线键接的封装体结构的制作方法,其特征在于,所述步骤1中所述加强筋(20),是在相邻载片台之间的对应位置,通过半腐蚀所述引线框架(10)的上半部分形成的。
9.如权利要求7所述可铜线键接的封装体结构的制作方法,其特征在于,所述步骤2中还包含,将所述芯片底面与所述载片台的顶面固定连接,使所述芯片的若干底部电极,与所述载片台电性连接,并通过由所述若干载片台引出的若干引脚与外部元器件连接。
10.如权利要求9所述可铜线键接的封装体结构的制作方法,其特征在于,所述步骤2中还包含,将与所述若干载片台分隔且无电性连接的若干引脚,与所述芯片的若干顶部电极,通过铜线(50)键接形成电性连接。
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