[发明专利]用于太赫兹光谱测量的样品承载装置及其使用方法无效
申请号: | 201110050929.1 | 申请日: | 2011-03-03 |
公开(公告)号: | CN102183463A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 汪懋华;李斌;汪宁 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
主分类号: | G01N21/03 | 分类号: | G01N21/03 |
代理公司: | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人: | 刘芳 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 赫兹 光谱 测量 样品 承载 装置 及其 使用方法 | ||
1.一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置,其特征在于,所述样品承载装置为采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的长方体盒体;且所述长方体盒体为包括五个侧壁的无顶结构;所述长方体盒体的各侧壁厚度为1mm-1.5mm。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述长方体盒体的长为30mm-80mm,宽为30mm-80mm,高为3mm-5.5mm。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其特征在于,所述无顶结构为缺少一个所述长方体盒体的高所在的侧壁。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述长方体盒体的所述五个侧壁中两个相邻侧壁之间采用环氧树脂胶粘合。
5.一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置的使用方法,其特征在于,包括如下步骤:
清洁样品承载装置;所述样品承载装置为采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的长方体盒体;且所述长方体盒体为包括五个侧壁的无顶结构;所述长方体盒体的各侧壁厚度为1mm-1.5mm;
将待测样品导入所述长方体盒体中,以准备进行太赫兹光谱的测量。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,当所述待测样品为固体颗粒时,将所述待测样品导入所述长方体盒体中,具体包括如下:
将固体颗粒填入所述长方体盒体中,并在填入过程中不断抖动所述长方体盒体,使得所述固体颗粒在重力作用下自然压实,直到固体颗粒填至所述长方体盒体的五分之四以上。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,当所述待测样品为液体时,将所述待测样品导入所述长方体盒体中,具体包括如下:
从所述长方体盒体的底部开始注入液体,并在注入过程中抖动所述长方体盒体,以赶走液体中的气泡,直至液体充至所述长方体盒体的五分之四以上。
8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,当所述待测样品为气体时,将所述待测样品导入所述长方体盒体中,具体包括如下步骤:
从所述长方体盒体的底部开始通过导管导入气体,充气数分钟后再开始进行太赫兹光谱的测量,并在太赫兹光谱的测量的过程中,需要始终保持充气状态。
9.根据权利要求5-8任一所述的方法,其特征在于,所述清洁样品承载装置,具体包括:去除所述长方体盒体内所述待测样品的残留及灰尘。
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