[发明专利]用于太赫兹光谱测量的样品承载装置及其使用方法

说明书

技术领域

本发明涉及光谱测量技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置及其使用方法。

背景技术

太赫兹光谱(Terahertz，以下简称THz)作为光谱波段中尚未被深入开展应用研究的一个领域，是当前科技界创新技术研究的热点之一。它的频率处于0.1THz～10THz(1THz＝10¹²Hz)，在电磁波段中的位置介于红外和无线电波之间，是一种新的、有很多独特优点的辐射源。由于缺乏有效的太赫兹产生方法和检测手段，科学家对太赫兹光谱的性质了解有限。近些年，超快激光技术的迅速发展，为太赫兹脉冲的产生提供了稳定地激发光源，使太赫兹的产生和应用得到了蓬勃发展。太赫兹光谱技术已经在国防安全、通信、生物医学和化学等方面有了较多的研究和初步的应用。

太赫兹光子能量低，无辐射，可安全有效地进行非接触式无损探测，在实际中有着广阔的应用研究潜力和前景。利用太赫兹光谱进行样品测量时，将测量样品放在载物台上，可以进行透射式、反射式等方式测量。在透射测量实验中，由于所测的样品一般尺寸较大，太赫兹波无法直接穿透，所以需要对样品进行前处理：固体样品需要研磨成粉末状颗粒(通常情况下，直径适宜在微米或纳米级)，然后做压片处理；液体样品要尽量做成较薄的薄层；气体样品则要求均匀稳定地通过测量区域。但是，通常情况下，会遇到固体样品无法做压片处理，如含有结晶水、粘性较大、具有特殊物理化学性质等；或者液体样品不易固定成形；或者气体样品无法保证均匀稳定通过测量区域的时候，为太赫兹光谱测量的探测带来了一定的困难。

因此，亟需一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置。

发明内容

本发明提供一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置及其使用方法，用以解决现有技术中当固体样品无法做压片处理；或者液体样品不易固定成形；或者气体样品无法保证均匀稳定通过测量区域时，无法对样品进行太赫兹光谱测量的缺陷。

本发明提供一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置，所述样品承载装置为采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的长方体盒体；且所述长方体盒体为包括五个侧壁的无顶结构；所述长方体盒体的各侧壁厚度为1mm-1.5mm。

本发明还提供一种用于太赫兹光谱测量的样品承载装置的使用方法，包括如下步骤：

清洁样品承载装置；所述样品承载装置为采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的长方体盒体；且所述长方体盒体为包括五个侧壁的无顶结构；所述长方体盒体的各侧壁厚度为1mm-1.5mm。

将待测样品导入所述长方体盒体中，以准备进行太赫兹光谱的测量。

本发明的用于太赫兹光谱测量的样品承载装置及其使用方法，所述样品承载装置为采用聚乙烯材料或者石英玻璃制成的长方体盒体；且所述长方体盒体为包括五个侧壁的无顶结构；所述长方体盒体的各侧壁厚度为1mm-1.5mm。使用时，通过清洁承载装置；并将待测样品导入所述长方体盒体中，以准备进行太赫兹光谱的测量。采用本发明的技术方案，将待测样品装入本发明提供的太赫兹光谱测量的承载装置中，能够实现在太赫兹光谱的测量中对固体、液体或者气体的待测样品的准确测量，操作简单、实现方便，具有较强的适用性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的用于太赫兹光谱测量的样品承载装置的结构示意图。

图2为采用本实施例的用于太赫兹光谱测量的样品承载装置进行太赫兹光谱检测得到的频域透射曲线图。

图3为本发明实施例二提供的用于太赫兹光谱测量的样品承载装置的使用方法的流程图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。