[发明专利]曝光底片上CCD对位读取点的设计方法

说明书

技术领域

本发明涉及印刷线路板制造领域，具体涉及一种线路板曝光工序中的曝光底片上CCD对位读取点的设计方法。

背景技术

PCB制程中，半自动曝光机曝光时为了保证底片与制品精度一致，以及保持C/S两面底片一致，需要对C面底片、制品、S面底片进行对位校正，保证三者在允许的偏移公差内，曝光机的CCD镜头会读取三者的CCD读取点，进行精度调整。

行业内，对C/S底片上的CCD读取点一般设计方法为：C面底片采用一实心圆PAD，再加线宽为15MIL大小为 6*6MM的空白方框，S面线路采用空心圆圈，再加线宽为15MIL、大小为 6*6MM的空白方框。此种对位读取点的缺陷与不足如下：（1）CCD读取点内聚合之光环图案干膜，显影后冲进显影缸内，膜易碎脱落并反沾在制品上，导致制品良率偏低和品质问题；（2）另外，脱落的干膜也会污染显影缸，增加了设备保养的频率，影响正常生产，浪费人力及物力；（3）对位精度低，导致曝光精度相对较低。

发明内容

本发明需解决的问题是提供一种线路板曝光工序中的曝光底片上CCD对位读取点的设计方法，以提高对位精度、完善成品品质且能进一步提高生产效率、。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案为：提供一种曝光底片上CCD对位读取点的设计方法，所述曝光底片包括C底片和S底片，设计时，在所述C底片或S底片上设置一矩形边框，在矩形边框中心设置一具有缺口的空心圆环；在与其配合使用的S底片或C底片上对应设置一同样大小的矩形边框，在此矩形边框中心设置一实心圆点。

所述C底片或S底片上空心圆环的缺口数量为可根据实际需要设置，该缺口等间距间隔均匀分布于圆环上。

所述C底片或S底片上空心圆环的缺口宽度和空心圆环内、外半径也可根据实际需要设置，这些参数配合圆环上的缺口数量保证满足整体对位精度的高要求，还要考虑曝光机CCD对位镜头的读取时间，以提高生产效率。

同样，所述S底片或C底片上的实心圆点用于与圆环实现对位，其半径参数根据与其对应使用的空心圆环参数在一定范围内可调。

与现有技术相比，本发明具有以下优点：

（1）、在底片的对位圆环上设置缺口，可以牵制CCD圆环，使其在显影时不脱落，有效避免脱落后的膜反沾至制品板面，保证了成品品质；

（2）、同时，缺口设计，由于圆环面积减少，曝光机在读取CCD时，读取时间更短，提升了曝光机的产能； 

（3）、缺口设计，增加了曝光机的自动补偿功能，降低了底片涨缩，CCD变形而出现的对位偏差，提升了CCD对位精度；

（4）、另外，也减少了CCD圆环脱落至显影缸污染缸体的风险，降低了设备保养的频率，减少了保养所需药水和人力成本，以及由于保养设备而影响的产品生产进度。

附图说明：

图1是本发明所述一种曝光底片CCD对位点的结构示意图；

图2是与图1所对应使用的曝光底片上的CCD对位点的结构示意图。

具体实施方式

为了便于本领域技术人员的理解，下面将结合具体实施例及附图对本发明的结构原理作进一步的详细描述：

本发明所揭示的线路板曝光用底片上的CCD对位点的设计方法，即是在其中一底片上设置一矩形边框，在矩形边框中心设置一具有缺口的空心圆环，所述缺口等间距间隔均匀分布于圆环上。在与其配合使用的S底片或C底片上对应设置一同样大小的矩形边框，在此矩形边框中心设置一实心圆点。

CCD读取点是采用一种聚合干膜制作的，当采用整个圆环设计时，干膜容易脱落，在圆环上设计缺口，可以使CCD对位圆环膜更牢固的贴附于底片上，避免在显影冲洗时脱落，有效避免脱落后的膜反沾至制品板面及污染显影缸。同时，由于圆环面积减少，可缩短曝光机读取CCD的时间，提升了效率。

具体实施时，C底片或S底片上空心圆环的缺口数量、缺口宽度和空心圆环内、外半径均可根据实际需要设置。一般情况下缺口数量为1-4个， 

空心圆环的缺口宽度为10～14 mil，空心圆环内半径为1.2～1.5mm，外半径为内径1.8～2.2mm，对应的另一底片上的实心圆点半径为0.6～1.0mm。

为了对位读取方便，C底片或S底片上的矩形边框优选设置为正方形边框，尺寸优选为 5mm×5mm～8mm×8mm之间，边框线宽12～20mil。

实施例1：