[发明专利]用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱、测量系统和方法无效

专利信息
申请号: 201110053279.6 申请日: 2011-03-07
公开(公告)号: CN102679865A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 王珍媛;张志平;吴萍;张晓文;池峰 申请(专利权)人: 上海微电子装备有限公司
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 干涉仪 漂移 系数 温控 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,包括:箱体、加热装置、用于承载干涉仪的微晶玻璃和测量反射镜,所述箱体上设置有视窗,所述加热装置、微晶玻璃和测量反射镜置于所述箱体内,所述微晶玻璃靠近所述视窗,所述干涉仪置于所述微晶玻璃的靠近所述视窗的一端,所述测量反射镜置于所述微晶玻璃上并且与所述干涉仪出光面贴合。

2.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述视窗的材料为光学玻璃。

3.如权利要求2所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述光学玻璃的双面经过抛光。

4.如权利要求2所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述光学玻璃的双面镀有增透膜。

5.如权利要求2所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述光学玻璃的面型为八分之一波长。

6.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述微晶玻璃的热膨胀系数小于等于0.02×10-6/℃。

7.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述箱体的长度为25cm~40cm、宽度为25cm~40cm、高度为25cm~40cm。

8.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括风机,所述风机置于所述箱体内。

9.如权利要求8所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括风机出风窗体,所述风机出风窗体置于所述箱体内,并且所述风机出风窗体设置于所述风机的出风口。

10.如权利要求8所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括风扇过滤装置,所述风扇过滤装置置于所述箱体内,所述风扇过滤装置设置于所述风机的出风口。

11.如权利要求10所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述风扇过滤装置为过滤网。

12.如权利要求11所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,所述过滤网的材料为低化学气体散播组合材料。

13.如权利要求8所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控器,其特征在于,还包括电机过载保护器,所述电机过载保护器与所述风机连接,当所述风机的电机过载时,所述电机过载保护器使得所述风机停止工作。

14.如权利要求13所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控器,其特征在于,还包括故障指示装置,所述故障指示装置与所述电机过载保护器连接,当所述电机过载保护器使得所述风机停止工作时,所述故障指示装置状态改变。

15.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括温度传感器,所述温度传感器置于所述箱体内。

16.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括制冷装置,所述制冷装置置于所述箱体内。

17.如权利要求1所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括超温保护器,所述超温保护器与所述加热装置连接,当所述箱体内的温度超过预设值时,所述超温保护器使得所述加热装置停止工作。

18.如权利要求17所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱,其特征在于,还包括故障指示装置,所述故障指示装置与所述超温保护器连接,当所述超温保护器使得所述加热装置停止工作时,所述故障指示装置状态改变。

19.一种干涉仪热漂移系数的测量系统,其特征在于,包括:如权利要求1至18中的任一项所述的用于测量干涉仪热漂移系数的温控箱、激光器、激光接收器和激光计数卡,所述激光计数卡与所述激光接收器连接,所述激光器发射激光,所述激光穿过所述视窗和干涉仪,然后经过所述测量反射镜反射,再次穿过所述干涉仪和视窗至所述激光接收器,通过所述激光计数卡进行数据处理得到一测量值。

20.如权利要求19所述的干涉仪热漂移系数的测量系统,其特征在于,还包括导光元件,在所述激光穿过所述视窗和干涉仪前,所述激光先通过所述导光元件。

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