[发明专利]串行外围设备接口总线测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种信号测试系统及方法，特别是关于一种串行外围设备接口总线测试系统及方法。

背景技术

串行外围设备接口(Serial Peripheral Interface，SPI)总线是一种串行同步通讯总线。利用该总线，SPI主设备可以与一个或多个SPI从设备以串行方式进行数据传输。

为了保证数据传输的正确性，需要对SPI总线进行测试。目前，对SPI总线的测试需要依靠作业员的手工操作，测试时需要逐一测量SPI总线的各个参数，判断各个参数是否符合相关规范。手工操作的测试方法不仅速度慢、效率低，而且容易出错，已不能满足快速高质量生产的竞争需求。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种串行外围设备接口(SerialPeripheral Interface，SPI)总线测试系统，能够快速准确地测试串行外围设备接口总线。

此外，还有必要提供一种SPI总线测试方法，能够快速准确地测试串行外围设备接口总线。

一种SPI总线测试系统，所述SPI总线包括数据信号、时钟信号及选择信号，该系统包括：获取模块，用于获取SPI总线的数据信号、时钟信号及选择信号的波形；截取模块，用于根据选择信号的波形从数据信号与时钟信号的波形中截取数据信号与时钟信号的有效波形；叠加模块，用于以时钟信号的各个上升沿为基准，向前及向后各推移指定时间，从数据信号与时钟信号的有效波形中截取各段数据信号与时钟信号的有效波形，将截取的各段数据信号与时钟信号的有效波形各自叠加，得到数据信号与时钟信号的眼图；绘制模块，用于根据SPI总线的技术规范和时钟信号的眼图，在数据信号的眼图中绘制数据信号的规范眼图；判断模块，用于判断叠加得到的数据信号的眼图与绘制的数据信号的规范眼图是否相交，以确定SPI总线的数据传输是否正常；及输出模块，用于输出所述SPI总线的测试结果。

一种SPI总线测试方法，所述SPI总线包括数据信号、时钟信号及选择信号，该方法包括步骤：获取SPI总线的数据信号、时钟信号及选择信号的波形；根据选择信号的波形从数据信号与时钟信号的波形中截取数据信号与时钟信号的有效波形；以时钟信号的各个上升沿为基准，向前及向后各推移指定时间，从数据信号与时钟信号的有效波形中截取各段数据信号与时钟信号的有效波形，将截取的各段数据信号与时钟信号的有效波形各自叠加，得到数据信号与时钟信号的眼图；根据SPI总线的技术规范和时钟信号的眼图，在数据信号的眼图中绘制数据信号的规范眼图；判断叠加得到的数据信号的眼图与绘制的数据信号的规范眼图是否相交，以确定SPI总线的数据传输是否正常；及输出所述SPI总线的测试结果。

本发明串行外围设备接口总线测试系统及方法，可以快速准确地对串行外围设备接口总线实施测试。

附图说明

图1为本发明串行外围设备接口(Serial Peripheral Interface，SPI)总线测试系统较佳实施例的应用环境示意图。

图2为图1中SPI总线测试系统的功能模块图。

图3为本发明SPI总线测试方法较佳实施例的流程图。

图4为SPI总线的数据信号、时钟信号及选择信号的波形图。

图5为叠加得到的数据信号与时钟信号的眼图，以及绘制的数据信号的规范眼图。

主要元件符号说明