[发明专利]纹理特征点比对方法及系统

权利要求书

1.一种图像的纹理特征点比对方法，包括：

接收一参考图像及一目标图像；

依据该参考图像，产生一局部二元图形LBP参考图像，并依据该目标图像产生一LBP目标图像；

检测该LBP参考图像的多个参考纹理特征点；以及

依据这些参考纹理特征点，在该LBP目标图像比对出对应的多个目标纹理特征点。

2.如权利要求1所述的图像的纹理特征点比对方法，其中在产生该LBP参考图像及该LBP目标图像的步骤中，

该参考图像包括多个参考像素，该LBP参考图像为各个参考像素与邻近的这些参考像素的亮度大小关系；

该目标图像包括多个目标像素，该LBP目标图像为各个目标相素与邻近的这些目标像素的亮度大小关系。

3.如权利要求1所述的图像的纹理特征点比对方法，其中该LBP参考图像包括多个LBP参考像素，检测这些参考纹理特征点的步骤包括：

依据各该LBP参考像素与邻近的这些LBP参考像素的汉明距离，检测这些参考纹理特征点。

4.如权利要求3所述的图像的纹理特征点比对方法，其中各该LBP参考像素与邻近的这些LBP参考像素的汉明距离采用查表的方式获得。

5.如权利要求1所述的图像的纹理特征点比对方法，其中该LBP参考图像包括多个LBP参考像素，该LBP目标图像包括多个LBP目标像素，比对出对应的这些目标纹理特征点的步骤依据这些LBP参考像素与这些LBP目标像素的汉明距离比对出对应的这些目标纹理特征点。

6.如权利要求5所述的图像的纹理特征点比对方法，其中这些LBP参考像素与这些LBP目标像素的汉明距离采用查表所获得。

7.如权利要求1所述的图像的纹理特征点比对方法，还包括：

判断每一参考纹理特征点是否仅对应于一个目标纹理特征点；

若其中的一参考纹理特征点对应于多个目标纹理特征点，则依据该参考纹理特征点的亮度与这些目标纹理特征点的亮度的绝对误差和选取其中的一目标纹理特征点。

8.一种图像的纹理特征点比对系统，接收一提供单元提供的一参考图像及一目标图像，包括：

一局部二元图形LBP产生单元，依据该参考图像，产生一LBP参考图像，并依据该目标图像产生一LBP目标图像；

一检测单元，用以检测该LBP参考图像的多个参考纹理特征点；以及

一比对单元，依据这些参考纹理特征点，在该LBP目标图像寻找对应的多个目标纹理特征点。

9.如权利要求8所述的图像的纹理特征点比对系统，其中

该参考图像包括多个参考像素，该LBP参考图像为各个参考像素与邻近的这些参考像素的亮度大小关系；

该目标图像包括多个目标像素，该LBP目标图像为各个目标相素与邻近的这些目标像素的亮度大小关系。

10.如权利要求8所述的图像的纹理特征点比对系统，其中该LBP参考图像包括多个LBP参考像素，该检测单元依据各该LBP参考像素与邻近的这些LBP参考像素的汉明距离，检测这些参考纹理特征点。

11.如权利要求10所述的图像的纹理特征点比对系统，还包括：

一存储单元，用以存储一汉明距离表；以及

一查表单元，依据该汉明距离表查出各该LBP参考像素与邻近的这些LBP参考像素的汉明距离。

12.如权利要求8所述的图像的纹理特征点比对系统，其中该LBP参考图像包括多个LBP参考像素，该LBP目标图像包括多个LBP目标像素，该比对单元依据这些LBP参考像素与这些LBP目标像素的汉明距离比对出对应的这些目标纹理特征点。

13.如权利要求12所述的图像的纹理特征点比对系统，还包括：

一存储单元，用以存储一汉明距离表；以及

一查表单元，依据该汉明距离表查表出这些LBP参考像素与这些LBP目标像素的汉明距离。

14.如权利要求8所述的图像的纹理特征点比对系统，还包括：

一判断单元，用以判断每一参考纹理特征点是否仅对应于一个目标纹理特征点；以及

一选取单元，如果其中的一参考纹理特征点对应于多个目标纹理特征点，则该选取单元依据该参考纹理特征点的亮度与这些目标纹理特征点的亮度的绝对误差和选取其中的一目标纹理特征点。