[发明专利]纹理特征点比对方法及系统有效
申请号: | 201110061865.5 | 申请日: | 2011-03-15 |
公开(公告)号: | CN102542245A | 公开(公告)日: | 2012-07-04 |
发明(设计)人: | 王裕龙;张晏树;欧志鸿;黄雅轩 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06T7/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 史新宏 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 纹理 特征 方法 系统 | ||
技术领域
本申请涉及一种图像的比对方法及系统,且特别涉及一种图像的纹理特征点比对方法及系统。
背景技术
现今特征点撷取较常见的技术为角点检测,其角点检测方法众多,目的是在灰阶图像中找出较具有鉴别度的特征点位置,希望能排除容易比对错误的直线与亮度值变化较为一致的区域,而撷取出的特征点通常为灰阶图像亮度值对比较强烈且较为角落的区域,其效果虽然稳定,但所检测到的特征点点数不够密集,其实在灰阶图像中还有很多区域其比对的鉴别度也是相当高的。
传统的比对方法有光流法与众多的区块比对方法,传统光流法因为其本身理论的定义限制,无法比对移动量较大的特征点,对于光线变化较无抑制能力,且速度上也稍嫌太慢。
发明内容
本申请涉及一种图像的比对方法及系统,其利用区块比对方法,其对光线变化有一定的抑制能力。
根据本申请的第一方面,提出一种图像的纹理特征点比对方法。纹理特征点比对方法包括以下步骤。接收一参考图像及一目标图像。依据参考图像,产生一局部二元图形(Local Binary Pattern,LBP)参考图像,并依据目标图像产生一LBP目标图像。检测LBP参考图像的数个参考纹理特征点。依据这些参考纹理特征点,在LBP目标图像比对出对应的数个目标纹理特征点。
根据本申请的一第二方面,提出一种图像的纹理特征点比对系统。纹理特征点比对系统包括一局部二元图形(Local Binary Pattern,LBP)产生单元、一检测单元及一比对单元。提供单元用以接收一提供单元提供的一参考图像及一目标图像。LBP产生单元依据参考图像,产生一LBP参考图像,并依据目标图像产生一LBP目标图像。检测单元检测LBP参考图像的数个参考纹理特征点。比对单元依据这些参考纹理特征点,在LBP目标图像寻找对应的数个目标纹理特征点。
为了对本申请的上述及其他方面更了解,下文特举实施例,并配合附图,作详细说明如下:
附图说明
图1绘示本实施例图像的纹理特征点比对方法的流程图。
图2绘示本实施例图像的纹理特征点比对系统的方块图。
图3绘示LBP运算示意图。
图4绘示一参考像素与周围16个参考像素的示意图。
图5绘示LBP区块比对的示意图。
图6绘示数张原始图像及其LBP图像。
图7绘示参考纹理特征点的示意图。
【主要元件符号说明】
100:纹理特征点比对系统
110:提供单元
120:LBP产生单元
130:检测单元
140:比对单元
150:判断单元
160:选取单元
170:存储单元
180:查表单元
b1、b2、b3、b4、b5、b6、b7、b8:位
C:圆
fr:参考纹理特征点
ft、ft*:目标纹理特征点
Ir:参考图像
It:目标图像
LBPr:LBP参考图像
LBPt:LBP目标图像
Pr、Pr0、xi:参考像素
Pt:目标像素
R:搜寻范围
r1:参考比对区块
r2:目标比对区块
S101~S106:流程步骤
具体实施方式
请参照图1及图2,图1绘示本实施例图像的纹理特征点比对方法的流程图,图2绘示本实施例图像的纹理特征点比对系统100的方块图。本实施例的纹理特征点比对方法主要包含三个部分:(1)纹理特征点的撷取、(2)局部二元图形(Local Binary Pattern,LBP)图像的区块比对及(3)绝对误差和(Sum of Absolute Difference,SAD)的区块比对。以下搭配图2的图像的纹理特征点比对系统100说明本实施例。然而,本申请所属领域技术人员均可了解,本申请的比对方法并不局限应用于图2的比对系统100,也不局限于下述的演算示例。
(1)纹理特征点撷取的撷取:
如图1所示,在步骤S101中,提供单元110提供一参考图像Ir及一目标图像It,以供本实施例图像的纹理特征点比对系统100接收。提供单元110例如是一摄影机、一照相机或存储数张图像的存储装置。参考图像Ir及目标图像It例如是连续拍摄的前一刻图像及当下刻图像。
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