[发明专利]基于量值的检测并对硬盘缺陷区域进行分类的方法

权利要求书

1.一种机器实现的对硬盘上的与热粗糙(TA)或介质缺陷(MD)相关联的缺陷区域进行分类的方法，所述方法包括：

(a)该机器基于(i)与所述缺陷区域对应的信号值(x[n]或y[n])和相应的期望信号值(或)中的一方或两方的量值以及(ii)所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的符号产生第一量度；

(b)该机器基于所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的量值而不基于所述信号值或所述期望信号值中任一方的符号来产生第二量度；

(c)该机器比较所述第一量度和所述第二量度；以及

(d)该机器基于步骤(c)的比较确定所述缺陷区域是与热粗糙相关联还是与介质缺陷相关联。

2.根据权利要求1的方法，其中，所述信号值是：(i)模拟到数字转换器(ADC)输出值(x[n])，(ii)均衡器输入值(x[n])，或(iii)均衡器输出值(y[n])。

3.根据权利要求1的方法，其中，该机器通过如下来比较所述第一量度和所述第二量度：

(i)确定所述第一量度是否小于所述第二量度的指定的分数，其中所述指定的分数小于1；或者

(ii)将所述第一量度和所述第二量度的比率与指定的阈值进行比较。

4.根据权利要求1的方法，其中，所述期望信号值是所述信号值的平均值，其中所述平均值是与所述信号以及一个或更多个相邻的信号值相关联的比特码型的函数。

5.根据权利要求1的方法，其中，所述期望信号值是从与所述信号值对应的硬判决值重新构建的。

6.根据权利要求5的方法，其中，所述期望信号值是通过将所述硬判决值与目标多项式卷积而重新构建的。

7.根据权利要求1的方法，其中：

(I)所述第一量度(α₁)是基于(i)信号值及其对应的期望信号值的积的期望和(ii)所述对应的期望信号值的平方的期望的比率的；或者

(II)所述第一量度(α₁)是基于(i)信号值及其对应的期望信号值的符号的积的期望和(ii)所述对应的期望信号值的量值的期望的比率的；或者

(III)所述第二量度(α₂)是基于(i)信号值的量值的期望(E[|y[n]|])和(ii)其对应的期望信号值的量值的期望的比率的；或者

(IV)(a)所述第一量度是信号值及其对应的期望信号值的积的期望和(ii)所述对应的期望信号值的量值的期望的积；并且

(b)所述第二量度是所述对应的期望信号值的平方的期望和(ii)所述信号值的量值的期望(E[|y[n]|])的积；或者

(V)(a)所述第一量度是信号值及其对应的期望信号值的符号的积的期望；并且

(b)所述第二量度是所述信号值的绝对值的期望(E[|y[n]|])。

8.根据权利要求1的方法，进一步包括：

通过将所述第一量度和所述第二量度中的一方与指定的阈值进行比较来检测所述缺陷区域的位置。

9.一种用于对硬盘上的与热粗糙(TA)或介质缺陷(MD)相关联的缺陷区域进行分类的机器，该机器包括：

(a)用于基于(i)与所述缺陷区域对应的信号值(x[n]或y[n])和相应的期望信号值(或)中的一方或两方的量值以及(ii)所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的符号产生第一量度的装置；

(b)用于基于所述信号值和所述期望信号值中的一方或两方的量值但不基于所述信号值或所述期望信号值中任一方的符号来产生第二量度的装置；

(c)用于比较所述第一量度和所述第二量度的装置；以及

(d)用于基于装置(c)的比较确定所述缺陷区域是与热粗糙相关联还是与介质缺陷相关联的装置。

10.根据权利要求9的机器，其中所述机器是(i)数字信号处理器或(ii)硬盘驱动器。